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深圳市矢量科學儀器有限公司

當前位置:深圳市矢量科學儀器有限公司>>其他前道工藝設(shè)備>>7 CMP>> TPC-2110全自動CMP拋光機

全自動CMP拋光機

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號TPC-2110

品牌特思迪

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地北京市

更新時間:2025-06-05 20:45:36瀏覽次數(shù):407次

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全自動CMP拋光機是一款針對薄膜(介質(zhì)層)的全自動拋光設(shè)備,,操作便捷,兼容性強,,通過更換拋光壓頭實現(xiàn)不同尺寸晶圓的兼容,,采用自動化裝片方式,機械手自動取放片,,同時搭配雙面PVA滾刷進行在線刷洗功能,,實現(xiàn)干進干出,用于氧化物,、金屬,、STI、SOI,、MEMS等產(chǎn)品的平坦化拋光,,應(yīng)用廣泛。

1.  產(chǎn)品概述:

CMP拋光機,,全稱為化學機械拋光機,,是一種針對薄膜(如介質(zhì)層)進行拋光處理的設(shè)備。它結(jié)合了化學刻蝕和機械摩擦的綜合作用,,通過精確控制拋光過程中的化學和機械參數(shù),,實現(xiàn)對晶圓表面材料的精細去除和平坦化處理。CMP拋光機具有操作便捷,、兼容性強等特點,,能夠根據(jù)不同尺寸和類型的晶圓進行適配,并通過更換拋光壓頭等方式實現(xiàn)多種拋光工藝的需求,。

2.  設(shè)備用途/原理:

CMP拋光機在半導體制造中扮演著至關(guān)重要的角色,,其主要用途包括:

1. 晶圓表面平坦化:在集成電路制造過程中,CMP拋光機用于對晶圓表面進行平坦化處理,,以消除表面起伏和缺陷,,提高晶圓表面的平整度。這對于后續(xù)工藝步驟的順利進行和芯片性能的提升至關(guān)重要,。

2. 薄膜厚度控制:CMP拋光機能夠精確控制晶圓表面薄膜的厚度,,確保薄膜厚度達到設(shè)計要求。這對于提高芯片的性能和可靠性具有重要意義,。

3. 特殊材料加工:除了集成電路制造外,,CMP拋光機還廣泛應(yīng)用于3D封裝技術(shù)、特殊材料加工等領(lǐng)域,。例如,,在3D封裝技術(shù)中,CMP拋光機用于處理芯片之間的連接面,,以確保連接的精確性和可靠性,。

3.  設(shè)備特點

CMP拋光機具有以下幾個顯著特點:

1  高精度控制:CMP拋光機采用先進的控制系統(tǒng)和精密的機械結(jié)構(gòu),能夠?qū)崿F(xiàn)對拋光過程中各項參數(shù)的精確控制,。這包括拋光壓力,、拋光盤轉(zhuǎn)速、拋光頭轉(zhuǎn)速等關(guān)鍵參數(shù),,從而確保拋光效果的穩(wěn)定性和一致性,。

2 多工藝兼容:CMP拋光機具有較強的兼容性,能夠根據(jù)不同材料和工藝的需求進行適配,。通過更換拋光壓頭,、調(diào)整拋光液配方等方式,CMP拋光機可以實現(xiàn)對多種材料和工藝的拋光處理,。

3 自動化程度高:現(xiàn)代CMP拋光機通常配備有自動化上下片系統(tǒng),、自動清洗系統(tǒng)等輔助設(shè)備,能夠?qū)崿F(xiàn)拋光過程的自動化操作,。這不僅提高了生產(chǎn)效率,,還降低了人工操作帶來的誤差和風險。

4 環(huán)保節(jié)能:CMP拋光機在設(shè)計和制造過程中注重環(huán)保和節(jié)能,。例如,,采用低能耗的電機和傳動系統(tǒng)、優(yōu)化拋光液配方以減少廢液排放等措施,,都有助于降低設(shè)備運行過程中的能耗和環(huán)境污染,。

綜上所述,,CMP拋光機作為半導體制造領(lǐng)域的重要設(shè)備之一,具有高精度控制,、多工藝兼容,、自動化程度高和環(huán)保節(jié)能等特點。隨著半導體技術(shù)的不斷發(fā)展和進步,,CMP拋光機也將不斷升級和完善,,為半導體制造行業(yè)的發(fā)展提供更加有力的支持。
 4. 設(shè)備參數(shù)

規(guī)格/參數(shù)

TPC-2110

晶圓尺寸

兼容6/8英寸

加工形式

全自動干進干出

拋光盤數(shù)量

1

拋光盤轉(zhuǎn)速

0-200 RPM

拋光頭轉(zhuǎn)速

0-200RPM

Wafer氣囊壓力

0-700 g/cm2

分區(qū)加壓

8英寸5區(qū),,6英寸3區(qū)

保持環(huán)壓力

0-700 g/cm2

修整器

擺臂式金剛石修整器

清洗工位

3個:2個刷洗+1個兆聲&干燥

研磨大速率(Sio2

200nm/min

研磨后晶圓表面粗糙度(Sio2)

Ra≤0.5nm(監(jiān)測區(qū)域 面積≥5umx5um)

Sio2研磨去除速率

片間非均勻性≤5%

Sio2研磨去除速率

片內(nèi)非均勻性≤5%(去邊5EE,,同一直徑從左到右 9 )



CMP

G&P旗下的GNP POLI-PCB系列CMP主要運用于研發(fā),

CMP

GnP POLI-610專為藍寶石等復合晶圓的CMP工藝開發(fā)而設(shè)計,。特

CMP

GNP POLI-762是高通用性12英寸(300mm) CMP工藝而

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