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Fischer X射線鍍層測厚儀,,F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線光譜儀,主要用于無損厚度測量和成分析。
菲希爾X射線鍍層測厚儀,菲希爾熒光射線測厚儀,XDV-SDD設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達(dá)驅(qū)動的Z軸升降臺,。
菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量,雙層鍍層,,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 (兩層的厚度和合金成分都能被測量),;
貴金屬鍍層厚度測量,F(xiàn)ischerscope X-ray,。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀,。
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Fischer X射線測厚儀菲希爾,,菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,,它結(jié)構(gòu)...
HELMUT菲希爾涂層測厚儀|Fischer代理,ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲,,評估和輸出,,ISOSCOPE FM...
HELMUT FISCHER菲希爾代理,集鍍層厚度測量和材料測試與一體,,F(xiàn)ISCHERSCOPE® MMS® PC是一款簡潔并其通用的臺式多...
Fischer菲希爾X射線測厚儀,正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣,,F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500...
Fischer X熒光射線測厚儀,,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀
Fischer X射線測厚儀,微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號,,以此造就了高精度的測量,。
菲希爾X射線測厚儀Fischer,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級,、耐用型測...
菲希爾X射線測厚儀|Fischer代理,,氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
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