Fischer X射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設計的入門級,、耐用型測量儀,。

微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號,，以此造就了高精度的測量,。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點,，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力,。

依靠FISCHER所采用的的*基本參數(shù)法,，可以在沒有標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度,。

菲希爾X射線測厚儀XDLM-PCB 220配備了可電動切換的多種準直器和基本濾片,，讓每次測量都可以在條件下進行，滿足各種測量需求,。

菲希爾X射線測厚儀XDLM-PCB 220是用戶界面友好的臺式測量儀器,。測量門底部留有空隙，以方便對大面積印制電路板的測量,。儀器樣品定位簡便,，配備了高精度、可編程的XY平臺,，并帶有彈出功能,。激光點作為輔助定位，能幫助快速對準測量位置,。配備了高分辨率彩色攝像頭，使得對準測量位置的過程更加準確,、簡便,。

菲希爾X射線測厚儀XDLM-PCB 220配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管，提供三擋可選高壓,，3種可切換基本濾片,。

Fischer X射線測厚儀