非接觸式無損方塊電阻測試儀,、晶圓方阻測試儀,、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀,、晶錠電阻率分析儀,、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀,、少子壽命測試儀,,晶圓、硅片厚度測試儀,、表面光電壓儀JPV\SPV,、汞CV、ECV,。為碳化硅,、硅片、氮化鎵,、襯底和外延廠商提供測試和解決方案,。
憑借技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗,申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認可,并取得良好的市場口碑,。