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首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)

  • 分光輻射照度測量系統(tǒng) 參考價:面議

    該檢測器 是一種高性能的分光光度計(jì) ,在光源測量,、反射/透射測量,、過程測量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    分光輻射照度
    2025/1/23 11:34:03349
  • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價:面議

    ●非接觸式,、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時研磨檢測●可穿越保護(hù)膜,、觀景窗等中間層的檢測●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/1/23 11:31:43401
  • 光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價:面議

    MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備,,可以單次獲取高度方向的信息,,并且可以無損,、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量,。此外,,還可以高速掃描任何表面并確定...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    光波場三維顯微鏡
    2025/1/23 11:30:03271
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價:面議

    本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能,。 根據(jù)用途,,可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑
    2025/1/23 11:27:46271
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價:面議

    ● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定,、粒子濃度測定,、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析,、粒徑多角度測定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑
    2025/1/23 11:26:14270
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價:面議

    ELSZ series的最zu高級機(jī)型,,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,,還能進(jìn)行分子量測定的...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑分子量
    2025/1/23 11:23:58295
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價:面議

    ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,,并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置?!襁m用于粒徑測量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑分子量
    2025/1/23 11:22:07286
  • OPTM series 嵌入型 參考價:面議

    利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度,、微小光點(diǎn),在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息,。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/1/23 11:19:51279
  • Load Port對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) GS-300 參考價:面議

    ●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/1/23 11:17:50321
  • 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 參考價:面議

    半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù),通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案,。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    晶圓缺陷檢測儀半導(dǎo)體晶圓缺陷晶圓半導(dǎo)體晶圓缺陷
    2025/1/23 10:32:116733
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 參考價:面議

    ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
    型號: ELSZ-2000... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    分子量測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)ZETA電位粒徑分子量
    2025/1/23 10:30:365650
  • 光電流測試 參考價:面議

    光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法,,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件,、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域,。
    型號: S-LBIC 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微光電流成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)光電流成像顯微光電流顯微
    2025/1/23 10:28:231528
  • 便攜式拉曼光譜儀 參考價:面議

    AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨(dú)立的研究儀器,,旨在進(jìn)行光譜測量,其能力達(dá)到*端系統(tǒng)的水平,。 RU120采用剛性無活動部件設(shè)計(jì),,無需調(diào)整,具有...
    型號: RU120 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    便攜式拉曼光譜儀光譜儀便攜式拉曼RU120
    2025/1/23 10:22:525562
  • 高光譜測試系統(tǒng) 參考價:面議

    高光譜測試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng),,其原理新穎,,相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對孔徑大、色散線性度好,、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn),。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    高光譜測試系統(tǒng)高光譜測試系統(tǒng)高光譜測試
    2025/1/22 19:33:151818
  • 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 參考價:面議

    超快pump-probe 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) TA100:該系統(tǒng)設(shè)計(jì)和飛秒激光相結(jié)合,, 用于檢測樣品中的超快激發(fā)態(tài)或光生載流子電荷的動力學(xué)過程。TA100為“ 一站式...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    瞬態(tài)吸收吸收系統(tǒng)瞬態(tài)吸收瞬態(tài)吸收系統(tǒng)
    2025/1/22 19:29:141694
  • 太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) 參考價:面議

    太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測量量子效率 (QE)(也稱為入射光子到電荷載流子效率 (IPCE)) 的預(yù)配置而靈活的解決...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    太陽能太陽能電池量子太陽能電池量子效率電池量子測試系統(tǒng)
    2025/1/22 19:27:031708
  • 太陽光模擬器 參考價:面議

    Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設(shè)計(jì),,滿足全部 3A 級性能標(biāo)準(zhǔn),,而不影 響其 1 個太陽光強(qiáng)輸出功率。按照慣例,,AAA 級的第.一個字母代表光譜匹...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    太陽光模擬器模擬器太陽光IV系統(tǒng)
    2025/1/22 19:25:241702
  • 光電流成像 參考價:面議

    光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術(shù),。該技術(shù)通過在器件或材料表面照射光源,并測量其產(chǎn)生的電流信號,,來獲得材料或器件的空間分布信息,。
    型號: S-LBIC 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微光電流成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)光電流成像顯微光電流顯微
    2025/1/22 19:23:431967
  • 探測器光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) 參考價:面議

    S-DSR探測器光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)? 寬光譜范圍(200~14000nm可選),適用面廣? 調(diào)制法測量技術(shù),,提升測量結(jié)果信噪比? 開機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計(jì)...
    型號: S-DSR 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    探測器光譜測試系統(tǒng)探測器光譜響應(yīng)度測試光譜響應(yīng)度
    2025/1/22 19:21:391912
  • 光譜變溫附件/探針臺 參考價:面議

    光譜變溫附件/探針臺THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺,。其寬泛的溫度范圍(-196°C到 600°C)和升溫速 率(0.1 到 1...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    光譜變溫附件探針臺光譜變溫
    2025/1/22 19:19:181769
  • SERS增強(qiáng)試劑 參考價:面議

    波銘科儀銷售的多種SERS增強(qiáng)試劑、SERS芯片,,均是經(jīng)過嚴(yán)格反復(fù)試驗(yàn),、驗(yàn)證、摸索制備而成,,各項(xiàng)性能指標(biāo)都很優(yōu) 良,,能滿足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    增強(qiáng)試劑增強(qiáng)試劑SERS
    2025/1/22 19:17:141325
  • 熒光量子效率測試系統(tǒng) 參考價:面議

    QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率,。適用于粉末,、溶液、固體(膜),、薄膜樣品的測量,。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域 的雜散...
    型號: QE-2000 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    熒光量子效率測試系統(tǒng)熒光量子效率熒光量子量子效率測試系統(tǒng)
    2025/1/22 19:15:021802
  • 顯微熒光成像系統(tǒng) 參考價:面議

    S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)光致發(fā)光(photoluminescence)即PL,,是用紫外,、 可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半 導(dǎo)體材料的發(fā)光特性...
    型號: S-MPL系列 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微熒光系統(tǒng)熒光顯微熒光S-MP顯微
    2025/1/22 19:13:171535
  • 組合熒光系統(tǒng) 參考價:面議

    組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),,既可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài),、瞬態(tài)測量,又能實(shí)現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測 量,。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇(光源,、探測器、樣品架,、變溫模塊等)...
    型號: S-Fluo系列 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    組合熒光系統(tǒng)熒光系統(tǒng)組合熒光S-Fluo熒光
    2025/1/22 19:11:231523

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