一,、概述

      SE-VE 是一款高性價(jià)比,、快速測(cè)量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì),，使用簡(jiǎn)便,，可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。

■ 高性價(jià)比光學(xué)橢偏測(cè)量解決方案,；

■ 緊湊集成化設(shè)計(jì),，較高用戶操作體驗(yàn),；

■ 一鍵快速測(cè)量分析,，人機(jī)交互設(shè)計(jì)，使用便捷,；

■ 豐富的數(shù)據(jù)庫(kù)和幾何結(jié)構(gòu)模型庫(kù),，保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力。

二,、產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源,，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；

■ 高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制,、PCRSA配置,，實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；

■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫(kù),、多種算法模型庫(kù),，涵蓋了目前絕大部分的光電材料。

三,、產(chǎn)品應(yīng)用

SE-VE光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析,。

可選配件

技術(shù)參數(shù)