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當前位置:> 供求商機> 6500-半導體SiC器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
1. 設(shè)備功能概述
a) 測試機具有高測試精度、高靈敏度,、高可靠性,、高安全性的特點,可實現(xiàn)SiC器件動態(tài)參數(shù)的精確測試,。
b) 簡潔的人機交互界面(計算機)可以滿足測試人員對SiC器件測試條件的約束和測試完畢后相關(guān)參數(shù)的自動顯示,。
c) 系統(tǒng)母線電壓閉環(huán)處理,,自動調(diào)節(jié)為預期設(shè)定值。
d) 門極驅(qū)動電壓-10V~20V可調(diào)(正電壓與負電壓絕對值差值必須大于5V),。
e) 主控系統(tǒng)由開關(guān)速度更高的IC 器件構(gòu)成,,大大提升了對采樣的處理速度和測試精度。
f) 驅(qū)動信號采用光纖通訊,,避免外來傳導或輻射干擾對測試精度的影響,。
g) 系統(tǒng)配置DUT 測試保護罩,此保護罩的開合狀態(tài)與母線電壓進行互鎖,,防止測試人員在母線帶電的情況下就對DUT進行操作的危險行為發(fā)生,。
h) 配置系統(tǒng)急停按鈕,拍下此按鈕斷開系統(tǒng)主功率輸入并且母線放電,;放電時間<1S,。
i) 為了進一步減小母線回路寄生參數(shù)對測試結(jié)果的影響,功率回路特殊設(shè)計,。
j) 負載接口預留阻性和感性接口,,根據(jù)需要,客戶手動配置,。
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