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武漢賽斯特精密儀器有限公司
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HEP-GDW-150S-高低溫試驗(yàn)箱
  • HEP-GDW-150S-高低溫試驗(yàn)箱

貨物所在地:湖北武漢市

更新時(shí)間:2025-01-24 21:00:24

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高低溫試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn),、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,,同時(shí)通過該試驗(yàn),,提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空,、汽車,、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,,考核和確定電工,、電子、半導(dǎo)體,、通訊,、光電、電器,、汽車電器,、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能,,使用的適應(yīng)性,,適用于學(xué)校,工廠,研發(fā)等單位

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產(chǎn)品型號(hào)用途及優(yōu)勢(shì)

產(chǎn)品型號(hào)

高低溫試驗(yàn)箱

型號(hào)說明

HEP GDW  150   S                


 

用途

高低溫試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn),、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,,同時(shí)通過該試驗(yàn),提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制,。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空,、汽車、家電,、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,,考核和確定電工、電子,、半導(dǎo)體,、通訊、光電,、電器,、汽車電器,、材料等產(chǎn)品,,在進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,,適用于學(xué)校,,工廠,研發(fā)等單位,。

容積和尺寸

有效容積

150L

內(nèi)箱尺寸(mm)

W500×D500×H600mm(**)

外形尺寸(mm)

W780×D1200×H1750mm(**)

性能

溫度范圍

-60~+150

升溫速率

1/min~3/min 非線性   空載狀態(tài)

降溫速率

0.7/min~1/min  非線性 空載狀態(tài)

解析精度

0.01

溫度波動(dòng)度

±0.5

溫度偏差

±2.0

溫度均勻度

2.0

電源

AC 220V 50Hz(電壓波動(dòng)±10%

功率

最大有效功率6KW

設(shè)備重量

200kg以實(shí)際重量為準(zhǔn)

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)

GB/T   10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,;

GB/T   2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法   試驗(yàn)A:低溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT;

GB/T   2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法   試驗(yàn)B:高溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT);

GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC 60068-2-14:2009,,IDT),;

冷卻方式

設(shè)備采用風(fēng)冷式



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