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半導體分立器件測試系統(tǒng)
  • 半導體分立器件測試系統(tǒng)

貨物所在地:湖北武漢市

地: 廣東

更新時間:2024-11-03 21:00:08

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( 聯(lián)系我們,,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,,謝謝?。?/p>

KEW3500 測試系統(tǒng)通過PC 機對其內(nèi)部功率源,、測試施加條件,、測試具體線路進行控制,,達到對
器件進行測試的目的,。在一定的測試條件下,這些源與條件負載按照條件準確的連接,,其中包含了
大量的負載,、轉(zhuǎn)換功率源和所要求的外部測試線路。

1.技術(shù)性能指標

1. 物理指標:設備尺寸(mm):800(寬)×600(長)×1800(高)mm,;

2.電學指標

主極電壓2000V

主極電流2500A

控制極電壓20V

控制極電流10A

電壓分辨率1mV

電流分辨率100pA

測試速度5mS/參數(shù)


晶體管:TRANSISTOR(NPN 型/PNP 型)

測試參數(shù):ICBO(發(fā)射極開路時集電極-基極的反向電流),、ICEO(集電極-發(fā)射極漏流)、IEBO(發(fā)射極

-基極間的漏流),、BVCEO(集電極-發(fā)射極的擊穿電壓),、BVCBO(集電極-基極的擊穿電壓)、BVEBO(發(fā)

射極-基極的擊穿電壓),、hFE(放大倍數(shù)),、VCESAT(集電極-發(fā)射極間的飽和壓降),、VBESAT(基極-發(fā)

射極間的飽和壓降)、VBE(基極-發(fā)射極間的非飽和壓降)



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