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產(chǎn)品型號(hào)
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地武漢市
更新時(shí)間:2023-01-18 10:07:00瀏覽次數(shù):455次
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微光顯微鏡
LED光源是LED產(chǎn)品的心臟,主要功能就是把電能轉(zhuǎn)化成光能,,因此注重光品質(zhì)尤其重要,!而當(dāng)前,芯片廠和燈珠廠在LED光源設(shè)計(jì)過程中,,僅僅是針對(duì)光源進(jìn)行相對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)量,,獲得整體的亮度、波長(zhǎng)和電壓等參數(shù),,并不能精確地描述光源的光分布情況,,這樣容易導(dǎo)致光源的色度和亮度不均勻,、光源整體效率低等問題,甚至導(dǎo)致光源失效,。因此很有必要利用顯微光分布測(cè)試系統(tǒng)對(duì)光源進(jìn)行發(fā)光均勻度測(cè)試來(lái)優(yōu)化光源設(shè)計(jì),。
針對(duì)以上情況,,實(shí)驗(yàn)室自主研發(fā)生產(chǎn)出顯微光分布測(cè)試系統(tǒng),,專注于LED產(chǎn)業(yè)改良打造,,先已演化到第四代,而且價(jià)格從150萬(wàn)降到幾十萬(wàn),!訂貨期3個(gè)月,,歡迎選購(gòu)!
應(yīng)用領(lǐng)域:
LED芯片電極設(shè)計(jì),、LED芯片規(guī)格電流優(yōu)化,、芯片出光率、LED芯片來(lái)料檢驗(yàn),、LED芯片失效分析,、燈珠燈具的光線追跡,、面板燈發(fā)光均勻度,、汽車照明燈發(fā)光均勻度、燈具發(fā)光均勻度,。
近場(chǎng)光學(xué)設(shè)備與顯微光分布探頭對(duì)LED光敏感度差異對(duì)比:
顯微光分布探頭對(duì)光敏感度較高,,能分辨細(xì)小的光強(qiáng)差異,因此成像也更細(xì)膩,。
微光顯微鏡
顯微光分布與傳統(tǒng)設(shè)備大PK:
顯微光分布測(cè)試系統(tǒng)可模擬工作溫度進(jìn)行測(cè)試,,分辨率可達(dá)1微米,其具有3D功能,,可觀測(cè)芯片出光效果,。
設(shè)備測(cè)試原理:
用于測(cè)量光源的光強(qiáng)分布、直徑,、發(fā)散角等參數(shù),。通過CCD測(cè)量光強(qiáng)分布,通過算法計(jì)算出光源直徑等參數(shù),。測(cè)量光強(qiáng)的相對(duì)強(qiáng)度,,不需要使用標(biāo)準(zhǔn)燈進(jìn)行校準(zhǔn)。
系統(tǒng)特點(diǎn):
1.模擬器件實(shí)際使用環(huán)境進(jìn)行測(cè)試
LED光源的光熱性能受溫度的影響較大,,脫離實(shí)際環(huán)境所測(cè)試的結(jié)果準(zhǔn)確性較差,,甚至毫無(wú)意義。而自主研發(fā)的顯微光分布測(cè)試系統(tǒng)配備有高低溫?cái)?shù)顯精密控溫平臺(tái),,能穩(wěn)定控制燈珠引腳和基板溫度,,模擬實(shí)際使用環(huán)境進(jìn)行測(cè)試,,提供更為真實(shí)有效的數(shù)據(jù)。如下圖所示,,固定其他條件不變,,分別控制引腳溫度為80℃和120℃,測(cè)試得到的光分布圖,,不同溫度下芯片的發(fā)光強(qiáng)度相差較大,。該測(cè)試平臺(tái)還配備有水冷降溫系統(tǒng),在100s內(nèi)可將平臺(tái)溫度由100℃降到室溫,,有效解決了樣品臺(tái)降溫困難的問題,,該系統(tǒng)還可以穩(wěn)定控制樣品臺(tái)溫度維持在0℃-室溫,適用于部分需要保持低溫工作的器件,。
2.對(duì)LED芯片設(shè)計(jì)提供參考依據(jù)
技術(shù)背景:
當(dāng)前,,芯片廠在LED芯片電極圖案設(shè)計(jì)過程中,僅僅是針對(duì)芯片進(jìn)行相對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)量,,獲得整體的亮度,、波長(zhǎng)和電壓等參數(shù),并不能精確地描述芯片的光分布情況,,這樣容易導(dǎo)致芯片的色度和亮度不均勻,、光源整體效率低等問題。而由于缺乏專業(yè)的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試經(jīng)驗(yàn),,LED芯片廠對(duì)芯片發(fā)光不均勻的現(xiàn)象束手無(wú)策,,沒有直觀的數(shù)據(jù)支持,無(wú)法從根本上改進(jìn)芯片品質(zhì),。
實(shí)驗(yàn)室顯微光分布測(cè)試系統(tǒng),,方便客戶了解芯片性能,認(rèn)清芯片電極設(shè)計(jì)的方向,。通過LED芯片發(fā)光均勻度測(cè)試,,可以從特定角度拍攝芯片影像,建立一個(gè)芯片亮度輸出的發(fā)光圖像,,接收被測(cè)芯片的光信號(hào),,提供芯片發(fā)光效果圖和光強(qiáng)數(shù)據(jù)。其中,,芯片發(fā)光效果圖能直觀地體現(xiàn)出芯片發(fā)光的均勻程度,,判斷電極圖案設(shè)計(jì)的優(yōu)劣,明確改進(jìn)方向,,優(yōu)化電極圖案,。
發(fā)光均勻度評(píng)判電極圖案設(shè)計(jì)的優(yōu)劣:
芯片的電極圖案對(duì)芯片的整體亮度、發(fā)光效率,、電壓大小影響較大,。根據(jù)芯片的發(fā)光均勻度進(jìn)行電極圖案優(yōu)化后,,可以改善電流擴(kuò)展分布能力,提高電流分布的均勻性,,減小電流聚集效應(yīng),,降低工作電壓,減小串聯(lián)電阻,,減少焦耳熱的產(chǎn)生,,減弱紅移現(xiàn)象,從而提升芯片的可靠性,。
優(yōu)化電極圖案的過程中,,要兼顧電流擴(kuò)展性和遮光面積。例如,,對(duì)于電極圖案設(shè)計(jì),,可增加低亮度區(qū)域金手指的長(zhǎng)度,來(lái)增加電流擴(kuò)展性,,提升低亮度區(qū)域的亮度,;同樣,也可以縮小高亮地區(qū)的金手指寬度,,減少該區(qū)域的電流擴(kuò)展性,,降低亮度,以達(dá)到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的,。又例如,,對(duì)于低亮度區(qū)域還可以設(shè)置電流擴(kuò)展層或增加電流擴(kuò)展層厚度,,以增加電流擴(kuò)展性,;相反,對(duì)于高亮度就可以設(shè)置電流阻擋層來(lái)減小電流密度,,以形成均勻分布的電流,,同樣可以達(dá)到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。一般,,在發(fā)光均勻度滿足要求的情況下,,要盡量減少遮光面積,提升發(fā)光效率,。
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