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所 在 地武漢市
更新時間:2023-01-18 10:07:00瀏覽次數(shù):435次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)微光顯微鏡
LED光源是LED產(chǎn)品的心臟,,主要功能就是把電能轉化成光能,,因此注重光品質尤其重要,!而當前,,芯片廠和燈珠廠在LED光源設計過程中,,僅僅是針對光源進行相對簡單的測量,,獲得整體的亮度,、波長和電壓等參數(shù),并不能精確地描述光源的光分布情況,,這樣容易導致光源的色度和亮度不均勻,、光源整體效率低等問題,甚至導致光源失效,。因此很有必要利用顯微光分布測試系統(tǒng)對光源進行發(fā)光均勻度測試來優(yōu)化光源設計,。
針對以上情況,實驗室自主研發(fā)生產(chǎn)出顯微光分布測試系統(tǒng),,專注于LED產(chǎn)業(yè)改良打造,,先已演化到第四代,,而且價格從150萬降到幾十萬!訂貨期3個月,,歡迎選購,!
應用領域:
LED芯片電極設計、LED芯片規(guī)格電流優(yōu)化,、芯片出光率,、LED芯片來料檢驗、LED芯片失效分析,、燈珠燈具的光線追跡,、面板燈發(fā)光均勻度、汽車照明燈發(fā)光均勻度,、燈具發(fā)光均勻度,。
近場光學設備與顯微光分布探頭對LED光敏感度差異對比:
顯微光分布探頭對光敏感度較高,,能分辨細小的光強差異,,因此成像也更細膩。
微光顯微鏡
顯微光分布與傳統(tǒng)設備大PK:
顯微光分布測試系統(tǒng)可模擬工作溫度進行測試,,分辨率可達1微米,,其具有3D功能,可觀測芯片出光效果,。
設備測試原理:
用于測量光源的光強分布,、直徑、發(fā)散角等參數(shù),。通過CCD測量光強分布,,通過算法計算出光源直徑等參數(shù)。測量光強的相對強度,,不需要使用標準燈進行校準,。
系統(tǒng)特點:
1.模擬器件實際使用環(huán)境進行測試
LED光源的光熱性能受溫度的影響較大,脫離實際環(huán)境所測試的結果準確性較差,,甚至毫無意義,。而自主研發(fā)的顯微光分布測試系統(tǒng)配備有高低溫數(shù)顯精密控溫平臺,能穩(wěn)定控制燈珠引腳和基板溫度,,模擬實際使用環(huán)境進行測試,,提供更為真實有效的數(shù)據(jù)。如下圖所示,,固定其他條件不變,,分別控制引腳溫度為80℃和120℃,測試得到的光分布圖,,不同溫度下芯片的發(fā)光強度相差較大,。該測試平臺還配備有水冷降溫系統(tǒng),,在100s內(nèi)可將平臺溫度由100℃降到室溫,有效解決了樣品臺降溫困難的問題,,該系統(tǒng)還可以穩(wěn)定控制樣品臺溫度維持在0℃-室溫,,適用于部分需要保持低溫工作的器件。
2.對LED芯片設計提供參考依據(jù)
技術背景:
當前,,芯片廠在LED芯片電極圖案設計過程中,,僅僅是針對芯片進行相對簡單的測量,獲得整體的亮度,、波長和電壓等參數(shù),,并不能精確地描述芯片的光分布情況,這樣容易導致芯片的色度和亮度不均勻,、光源整體效率低等問題,。而由于缺乏專業(yè)的測試設備和測試經(jīng)驗,LED芯片廠對芯片發(fā)光不均勻的現(xiàn)象束手無策,,沒有直觀的數(shù)據(jù)支持,,無法從根本上改進芯片品質。
實驗室顯微光分布測試系統(tǒng),,方便客戶了解芯片性能,,認清芯片電極設計的方向。通過LED芯片發(fā)光均勻度測試,,可以從特定角度拍攝芯片影像,,建立一個芯片亮度輸出的發(fā)光圖像,接收被測芯片的光信號,,提供芯片發(fā)光效果圖和光強數(shù)據(jù),。其中,芯片發(fā)光效果圖能直觀地體現(xiàn)出芯片發(fā)光的均勻程度,,判斷電極圖案設計的優(yōu)劣,,明確改進方向,優(yōu)化電極圖案,。
發(fā)光均勻度評判電極圖案設計的優(yōu)劣:
芯片的電極圖案對芯片的整體亮度,、發(fā)光效率、電壓大小影響較大,。根據(jù)芯片的發(fā)光均勻度進行電極圖案優(yōu)化后,,可以改善電流擴展分布能力,提高電流分布的均勻性,,減小電流聚集效應,,降低工作電壓,減小串聯(lián)電阻,,減少焦耳熱的產(chǎn)生,,減弱紅移現(xiàn)象,,從而提升芯片的可靠性。
優(yōu)化電極圖案的過程中,,要兼顧電流擴展性和遮光面積,。例如,對于電極圖案設計,,可增加低亮度區(qū)域金手指的長度,,來增加電流擴展性,提升低亮度區(qū)域的亮度,;同樣,,也可以縮小高亮地區(qū)的金手指寬度,減少該區(qū)域的電流擴展性,,降低亮度,,以達到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。又例如,,對于低亮度區(qū)域還可以設置電流擴展層或增加電流擴展層厚度,,以增加電流擴展性;相反,,對于高亮度就可以設置電流阻擋層來減小電流密度,,以形成均勻分布的電流,,同樣可以達到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的,。一般,在發(fā)光均勻度滿足要求的情況下,,要盡量減少遮光面積,,提升發(fā)光效率。
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