7月8日-10日,,中國機器視覺展在上海盛大舉行,凌云光攜多款創(chuàng)新展品精彩亮相,,聚焦AI+Vision為工業(yè)制造注入新質(zhì)生產(chǎn)力,。
BeamMaster M²是一種用于測量和評估激光光束質(zhì)量的儀器,通過測量M²質(zhì)量因子等參數(shù)來表征激光光束的質(zhì)量,,一體化設(shè)計精致小巧,,配置高精度電動導軌及高分辨率相機捕捉激光光斑的圖像,通過圖像處理軟件分析光斑的形狀,、質(zhì)心,、有效直徑、光束發(fā)散角,、束腰直徑,、瑞利長度、M²質(zhì)量因子等參數(shù),,實現(xiàn)快速一鍵式測量,。廣泛應(yīng)用于光學、激光技術(shù),、光纖通信,、材料加工等領(lǐng)域,精確控制和優(yōu)化激光光束的質(zhì)量,。
SF6300系列萬兆網(wǎng)線掃相機,,使用最新多線TDI技術(shù)芯片,輸出高靈敏度圖像,。相機分辨率8K/16K,,支持黑白/彩色,最高行頻可達200KHz,,支持標準GenICam協(xié)議,。設(shè)計多種應(yīng)用專屬ISP預處理功能,如分時頻閃,、多光場控制,、空間校正、色彩矯正等算法功能,。適用于鋰電,、光伏、PCB,、印刷,、半導體等高精端工業(yè)檢測場景。
紅外顯微自動對焦系統(tǒng)是由凌云光最新研發(fā)的2k分辨率紅外線掃相機搭配自動對焦系統(tǒng),。2K分辨率紅外短波線掃相機,,對于硅基產(chǎn)品、膜材產(chǎn)品具備較好穿透能力,,特別適合半導體等行業(yè)產(chǎn)品內(nèi)部特征識別及缺陷檢測,。自動對焦系統(tǒng)重復定位精度可達0.15μm,模塊化設(shè)計,,可針對不同產(chǎn)品的精度,、特征等需求定制方案。廣泛適用于半導體顯微,、半導體內(nèi)部缺陷檢測,、FPD線路檢測等高精度需求場景。
SR-PD系列PL檢測模組為高功率激光,、相機,、鏡頭一體機?;诠庵掳l(fā)光原理,,無接觸檢測方案,針對光伏電池片中的隱裂,、霧狀,、發(fā)黑、吸盤印,、石墨舟印,、同心圓、皮帶印,、臟污等缺陷檢測,,同時不會造成二次隱裂缺陷,大幅度提升產(chǎn)線良率,,減少不良片流入后段工序?qū)е碌奈锪侠速M,、產(chǎn)線停機,。
此外現(xiàn)場還展出了16KTDI高速背照式線掃相機、高性能棱鏡真彩色線掃相機,、高性能板級面陣相機,、應(yīng)對惡劣環(huán)境面陣相機、邊緣端智能處理器,、紅外,、線掃全系列相機等創(chuàng)新產(chǎn)品及應(yīng)用吸引了眾多觀眾互動,沉浸式體驗產(chǎn)品魅力,。
未來,,凌云光將以”AI+VIsion”技術(shù)為引擎,持續(xù)在機器視覺領(lǐng)域不斷推陳出新,,為行業(yè)客戶提供創(chuàng)新產(chǎn)品與服務(wù),,助力智能制造從感知互聯(lián)走向萬物智能,推動行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展,。
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