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目錄:上海胤煌科技有限公司>>納米粒度儀及電位分析儀>>Zeta-APS電位分析儀>> ZetaAPS美國MAS粒度Zeta電位分析儀

美國MAS粒度Zeta電位分析儀
  • 美國MAS粒度Zeta電位分析儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 ZetaAPS
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2024-11-26 14:52:34瀏覽次數(shù):2637評價(jià)

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應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥/生物制藥
美國MAS粒度Zeta電位分析儀可以測試:粒徑、Zeta電位,、滴定、電導(dǎo)等,。
對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠,、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量,。
  美國MAS粒度Zeta電位分析儀
 
  Zeta電位測量方法有哪些?
 
  Zeta電位又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),,是指剪切面(Shear Plane)的電位,,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),。
 
  由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子,這些反號離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層,。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,,即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場的作用下,,穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對移動時(shí)的滑動面即是剪切面,,該處對遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差,。它可以通過電動現(xiàn)象直接測定,。
 
  測量Zeta電位的方法主要有:
 
  電泳法-當(dāng)電場施加于電解質(zhì)時(shí),懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運(yùn)動,。當(dāng)這兩種對抗力達(dá)到平衡時(shí),粒子以恒定的速度運(yùn)動,,我們一般稱這個速度通為電泳遷移率,。
 
  電滲法-單位場強(qiáng)下的液體移動速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡單的正比關(guān)系,,所以可以利用電滲來測量ξ電勢,,但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料。
 
  流動電位法-流動電勢是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個帶電荷的絕緣表面流動時(shí),,表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動方向運(yùn)動,,這些帶電荷粒子的運(yùn)動導(dǎo)致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動電勢,。
 
  超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,,帶點(diǎn)粒子運(yùn)動會產(chǎn)生聲波,測量所產(chǎn)生的聲波,,就可以計(jì)算顆粒的動態(tài)遷移率,,后通過計(jì)算得到Zeta電位
 
  美國MAS粒度Zeta電位分析儀
 
  典型應(yīng)用:
 
  綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,,化學(xué)機(jī)械研磨,,煤漿,涂料,,化妝品,,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),,乳膠,,微乳,混合分散體系,,納米粉,,無水體系,,油漆成像材料。
 
  主要特點(diǎn):
 
  1)能分析多種分散物的混合體,;
 
  2)無需依賴Double Layer模式,,精確地判定等電點(diǎn);
 
  3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
 
  4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
 
  5)可精確測量無水體系;
 
  6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),,無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量,;
 
  7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量,;
 
  8)具有自動電位滴定功能;
 
  優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)被測樣品無需稀釋,;
 
  2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
 
  3)不需定標(biāo);
 
  4)能分析多種分散物的混合體,;
 
  5)高精度,;
 
  6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
 
  美國MAS粒度Zeta電位分析儀
 
  優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需定標(biāo);
 
  2)能測更寬的粒徑范圍,;
 
  3)無需依賴Double Layer模式
 
  4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;
 
  5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
 
  6)可適用于無水體系,;
 
  7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
 
  優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%,;
 
  2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
 
  3)高精度(±0.1mv);
 
  4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;
 
  5)electrosmotic flow不影響測量,;
 
  6)對流(convection)不影響測量;
 
  7)可精確測量無水體系,;
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000µm;
 
  2)可測量參數(shù):粒度分布,、固含量,、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP,、E5A,、電導(dǎo)率,、PH、溫度,、聲衰減,;
 
  3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),,高精度(±0.1mv);
 
  4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
 
  5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
 
  6)樣品體積:30-230ml,;
 
  7)PH范圍:0~14;
 
  8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
 

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