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目錄:上海胤煌科技有限公司>>納米粒度儀及電位分析儀>>Zeta-APS電位分析儀>> ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
  • 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 ZetaAPS
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-11-26 14:19:19瀏覽次數(shù):2337評價

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應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥
ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,可以測試:粒徑,、Zeta電位,、滴定、電導(dǎo)等,。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠,、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量,。
  ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
 
  典型應(yīng)用:
 
  綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,,化學(xué)機(jī)械研磨,,煤漿,,涂料,化妝品,,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,,食品工業(yè),乳膠,,微乳,,混合分散體系,納米粉,,無水體系,,油漆成像材料。
 
  主要特點(diǎn):
 
  1)能分析多種分散物的混合體,;
 
  2)無需依賴Double Layer模式,,精確地判定等電點(diǎn);
 
  3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
 
  4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
 
  5)可精確測量無水體系,;
 
  6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),,無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量,;
 
  7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),,被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量,;
 
  8)具有自動電位滴定功能,;
 
  優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)被測樣品無需稀釋,;
 
  2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
 
  3)不需定標(biāo),;
 
  4)能分析多種分散物的混合體,;
 
  5)高精度,;
 
  6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
 
  ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
 
  優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需定標(biāo),;
 
  2)能測更寬的粒徑范圍,;
 
  3)無需依賴Double Layer模式
 
  4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
 
  5)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
 
  6)可適用于無水體系,;
 
  7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
 
  優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
 
  1)無需稀釋,,固合量高達(dá)60%,;
 
  2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
 
  3)高精度(±0.1mv),;
 
  4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
 
  5)electrosmotic flow不影響測量,;
 
  6)對流(convection)不影響測量,;
 
  7)可精確測量無水體系;
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;
 
  2)可測量參數(shù):粒度分布,、固含量、Zeta電位,、等電點(diǎn)IEP、E5A,、電導(dǎo)率,、PH、溫度,、聲衰減;
 
  3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
 
  4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
 
  5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù)),;
 
  6)樣品體積:30-230ml,;
 
  7)PH范圍:0~14;
 
  8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

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