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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

典型應(yīng)用：

綜合穩(wěn)定水泥漿,，陶瓷，化學(xué)機械研磨,，煤漿,，涂料，化妝品,，環(huán)境保護禪選法礦物富集,，食品工業(yè)，乳膠,，微乳,，混合分散體系，納米粉,，無水體系,，油漆成像材料。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體,；

2）無需依賴Double Layer模式,，精確地判定等電點；

3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,；

4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,；

5）可精確測量無水體系,；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量,；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比),，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量,；

8）具有自動電位滴定功能,；

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,；

3)不需定標,；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度,；

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需定標,；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑,；

6)可適用于無水體系；

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需稀釋,，固合量高達60%；

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,；

3)高精度(±0.1mv),；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量,；

6)對流(convection)不影響測量,；

7)可精確測量無水體系；

技術(shù)參數(shù)：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um,；

2)可測量參數(shù)：粒度分布,、固含量、Zeta電位,、等電點IEP,、E5A、電導(dǎo)率,、PH,、溫度、聲衰減,；

3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv,，低表面電荷(可低至0. 1mv),，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數(shù)),；

6)樣品體積：30-230ml,；

7)PH范圍：0~14;

8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m