目錄:北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司>>體積表面電阻率測試儀>>塑料體積表面電阻率測試儀>> 四探針方阻電阻率測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電氣,綜合 | 自動化度 | 手動 |
LST-332普通四探針方阻電阻率測試儀
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸,、邊界效應,、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口,，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二.參照標準：
硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設(shè)計制造,；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
三.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門,，是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具,；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償,，并帶有溫度補償功能,，自動轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制,，恒流輸出,，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù),，生成報表
用于：覆蓋膜;導電高分子膜,，高,、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料,、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
四.型號及參數(shù)
規(guī)格型 | LST-332 |
1.方塊電阻范圍 | 10-4～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-5～2×106Ω-cm
|
測試電流范圍
| 10μA，100µA,，1mA,，10mA，100mA |
4.電流精度 | ±0.2%
|
5.電阻精度 | ≤0.3% |
6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導率 |
7.測試方式 | 普通單電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差 | ≤4%（標準樣片結(jié)果） |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺,；5.標準電阻 |
11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針 |
配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài),、液態(tài)、氣態(tài),、顆粒狀 電阻,、電阻率,、電導率測量
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----解決材料：
導體、半導體,、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.
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