首頁(yè)>>北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>體積表面電阻率測(cè)試儀>>四探針?lè)阶桦娮铚y(cè)試儀
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)定儀 參考價(jià):面議
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)定儀硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)制造,;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-199...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)