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當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>X-Ray電子制造>>PCBA檢測>> AX9100光電傳感器件缺陷X-RAY檢測儀
AX9100
生產(chǎn)商
無錫市
更新時間:2024-09-06 13:43:01瀏覽次數(shù):1066次
聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,農(nóng)業(yè),能源,電子 | 重量 | 1050KG |
功率 | 1.0KW | 最大檢測尺寸 | 435MM*385MM |
尺寸 | 1080*1180*1730 |
光電傳感器件缺陷X-RAY檢測儀介紹:
光電傳感器件缺陷X-RAY檢測儀應(yīng)用于倒裝芯片檢測,,半導(dǎo)體、封裝元器件,、鋰電行業(yè),,電子元器件、汽車零部件,、光伏行業(yè),,鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測,。
在電子元器件應(yīng)用領(lǐng)域,大規(guī)模的電路集成封裝技術(shù)得到普遍的重視,,特別是大規(guī)模的集成封裝與外部連線數(shù)量最多的多達數(shù)百根,,而在以平方厘米為基座的芯片基底上,完成連線節(jié)點的分布,,項目難度可想而知,,在實際生產(chǎn)過程中,元器件與PCB板的節(jié)點上,,除周邊外面可以看出一些節(jié)點之外,,其他地方都無法用肉眼觀察到內(nèi)部是否焊接正常,,而每一個節(jié)點都不可能無缺,一定會存在各種不同的下次(如橋連,、虛焊,、焊球、不能充分潤濕等),,這些缺陷會嚴(yán)重影響產(chǎn)品的使用性能,,所以如果想深入的了解焊接質(zhì)量,單純的采用AOI檢測是不行的,,需要采用可以透過產(chǎn)品外部直接看到產(chǎn)品內(nèi)部缺陷的X-RAY檢測設(shè)備。
由于焊接橋接處的最終結(jié)果是電氣短路,,因此BGA器件焊接之后,,相鄰焊球之間不應(yīng)存在焊接橋接。在用X-ray檢測設(shè)備檢測時,,該缺陷更加明顯,,在圖像區(qū)域可以看到焊料球與焊料球之間的連續(xù)連接,便于觀察和判斷,。還可以通過旋轉(zhuǎn)x光角來檢測虛焊缺陷,,以便及時采取有效措施加以避免。
產(chǎn)品應(yīng)用:
● pcba焊點檢測(BGA ,、CSP ,、POP等元器件檢測)
● 電池(極片焊點缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
● 電子接插件(線束,、線纜,、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤等檢測)
● 太陽能,、光伏(硅片焊點檢測)
● 半導(dǎo)體(封裝元器件檢測)
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測
標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 4/2(選配6寸)像增強器和百萬像素數(shù)字相機,;
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡單的鼠標(biāo)點擊操作編寫檢測程序,;
● 檢測重復(fù)精度高,;
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,允許*視角檢測樣,;
● 高性能的載物臺控制,;
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識別不良品;
● 自動BGA檢測程序準(zhǔn)確檢測每一個BGA的氣泡,,根據(jù)客戶需求進行判定并輸出Excel報表,。
安全的檢測設(shè)備:
日聯(lián)作為一個有著高度社會責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商,首要考慮的就是設(shè)備的安全性能,。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板,、鉛玻璃以及含鉛橡膠,,使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),。
日聯(lián)科技成立于2002年,,目前已成為國內(nèi)從事精密X-ray技術(shù)研究和X-ray智能檢測裝備研發(fā)、制造的國家*企業(yè),。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于LED,、SMT 、BGA,、CSP,、Flip-Chip、IC半導(dǎo)體元器件,、連接器,、線材、光伏組件,、電池,、陶瓷制品、及其它電子產(chǎn)品內(nèi)部穿透檢測等,,X-ray 檢測有高清晰的圖像,,同時具備分析缺陷(例如: 開路,短路,,漏焊等)的功能,。
X-ray檢測設(shè)備可以檢測哪些缺陷?
1,、集成電路的封裝工藝檢測:層剝離,、開裂、空洞和打線工藝,;
2,、印刷電路板制造工藝檢測:焊線偏移,橋接,,開路,;
3、表面貼裝工藝焊接性檢測:焊點空洞的檢測和測量,;
4,、連接線路檢查:開路,短路,,異?;虿涣歼B接的缺陷;
5、錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗,;
6,、高密度的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)檢驗;
7,、芯片尺寸量測,,打線線弧量測,組件吃錫面積比例量測,。
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