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Dimension Icon AFM性能和效率的定義

Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的ＡＦＭ應用體驗,，其測試功能強大，操作簡便易行,。仍然以世界上應用廣泛的AFM大樣品平臺為基礎,，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術經(jīng)驗，廣大客戶反饋,，結合工業(yè)領域的設備需求,，進行全面革新。全新的系統(tǒng)設計,，實現(xiàn)了*的低漂移和低噪音水平,，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。Dimension Icon還配備了Bruker技術ScanAsyst™ （自動成像參數(shù)優(yōu)化技術）,，用戶可以更簡易,、更快捷地獲得重復性更好的數(shù)據(jù)，并且降低了對客戶操作經(jīng)驗和操作水平的要求,。作為目前配置的AFM,，保證客戶高效完成所需的檢測任務。

性能

•*的傳感器設計,，在閉環(huán)條件下,，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平,，且具有超高的掃描分辨率,。
•*地降低噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像,，在輕敲模式下低于30pm

•熱漂移速率低于200pm/分鐘，真正獲得無曲圖像

無以倫比的效率
•XYZ閉環(huán)掃描器的新設計,，使儀器在較高掃描速度工作時,，也不降低圖像質量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率,。
•將十年的研發(fā)經(jīng)驗融入到參數(shù)預設置中,，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式,。
•高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

多功能性

 

• 針尖和樣品之間的開放式空間,，不僅可以進行各種標準實驗,，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求

• 硬件和軟件技術方面的不斷創(chuàng)新,，新開發(fā)的HarmoniX 模式,，可以測量納米尺度上材料性質

• 用戶實用程序腳本提供半自動測量和數(shù)據(jù)分析

性能

Dimension® Icon™優(yōu)秀的分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結合,，顯著提升了測量速度與質量,。Dimension® Icon™是針尖掃描技術的革新，一直處于工業(yè)*地位的,，配置溫度補償位置傳感器,，實現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在90微米掃描范圍,、大樣品臺系統(tǒng)上,，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時,，圖像質量也不會被損壞,，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。

表現(xiàn)

使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表文章數(shù)目遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多,，成為研究領域非常受歡迎的原子力顯微鏡型號之一,。Dimension Icon中，在原有的操作平臺上引入新技術,，展現(xiàn)出更高的性能和更快的測量結果獲得,。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往*的AFM技術更加簡便,。Dimension Icon用戶可以立即獲得高質量的結果,，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整。Dimension Icon的每個方面—從*開放式針尖樣品空間,，到預軟件參數(shù)設置—都經(jīng)過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM易用性,。

世界上靈活的平臺

Dimension Icon展現(xiàn)出的的性能，堅固度和靈活度幾乎可以實現(xiàn)以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量,。利用開放式平臺,，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM的強大功能*展現(xiàn)在科研領域和工業(yè)領域的研究者面前,，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的標準,。

強大的AFM控制器

通過NanoScopeV控制器，Dimension Icon能夠同時顯示和捕捉多達8幅圖像，并獲得在AFM針尖掃描大樣品時從未有過的信噪比,。NanoScopeV作為第五代控制器,，可以在8個渠道同時提供高速數(shù)據(jù)采集和高像素點成像(5120 x 5120)功能，允許研究者在時域上記錄和分析針尖-樣品相互作用時發(fā)生的納米級事件,，這是AFM以前從未實現(xiàn)過的,。
直觀圖形用戶界面可立即顯示八通道和廣大的控制器功能。左邊的圖像顯示的是在閉環(huán)模式下獲得三嵌段共聚物的形貌圖,，5K x5K數(shù)據(jù)點,，10μm掃描范圍。右邊的是放大到500nm范圍的圖像,。

技術參數(shù)