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聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇

時(shí)間:2024-9-23閱讀:83
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隨著半導(dǎo)體器件的日益普及和廣泛應(yīng)用,,在低損耗,、低感量、高功率密度,、高散熱性能、高集成度,、多功能等方向發(fā)展需求下,,半導(dǎo)體器件封裝和微電子組裝以及近年來衍生出的先進(jìn)封裝技術(shù)顯得尤為重要。9月13日,,第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇在成都成功舉辦,。

現(xiàn)場精彩

聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇


本屆會議聚焦最新的半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝技術(shù),探討技術(shù)發(fā)展,,促進(jìn)行業(yè)內(nèi)半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝技術(shù)廣泛交流與進(jìn)步,。

聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇


領(lǐng)拓在現(xiàn)場領(lǐng)拓儀器作為行業(yè)內(nèi)的分析檢測設(shè)備代理商隆重出席本屆會議,并攜帶了DVM6超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡驚喜亮相現(xiàn)場,,讓參會人員能近距離接觸設(shè)備,,吸引眾多觀眾在領(lǐng)拓展臺駐足停留。


聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇


本次會議領(lǐng)拓儀器提供了電鏡觀察及前處理,、力學(xué)分析,、形貌表征及元素分析、粒徑分布,、成分分析等半導(dǎo)體分析檢測方案,。

聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇


領(lǐng)拓儀器時(shí)刻關(guān)注半導(dǎo)體領(lǐng)域的新動態(tài)和發(fā)展,通過強(qiáng)有力的資源整合為高??蒲袉挝缓桶雽?dǎo)體行業(yè)提供半導(dǎo)體分析檢測解決方案,。

參會設(shè)備


01 Leica DVM6 超景深視頻顯微鏡

聚焦第十七屆中國SMT學(xué)術(shù)會議暨半導(dǎo)體器件封裝與微電子組裝工藝技術(shù)論壇

一款多功能視頻顯微鏡,,可以用在檢測分析,質(zhì)量控制,,失效分析,,研發(fā)產(chǎn)品等領(lǐng)域的測量分析。集成的照明和復(fù)消色差物鏡確保了高品質(zhì)的圖像,??捎肈VM6的支架傾斜功能來觀察樣品的側(cè)面信息,通過支架的±60°傾斜,,可以對樣品進(jìn)行360°觀察,;利用景深合成可對特征進(jìn)行3D尺寸的測量。顯微鏡的編碼功能使得測量結(jié)果很容易重現(xiàn),,報(bào)告和文檔都可以一鍵生成,。


02 Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀

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可制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡 (SEM),、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS,、WDS、Auger,、EBSD) 和 AFM 科研工作,。一次可處理樣品多達(dá) 3 個(gè), 并可在同一個(gè)載物臺上進(jìn)行橫切和拋光,??砂踩⒏咝У貙悠穫鬏斨梁罄m(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng),。

03 Leica EM TXP 精研一體機(jī)

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一款可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位的表面處理工具,,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割,、拋光等系列處理,。它尤其適合于制備高難度樣品,如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理,。有了 Leica EM TXP,,這些工作就可輕松完成。


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