隨著各行各業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的需求逐漸增加,,電子元器件也逐漸變得更精密,。對(duì)元器件的外觀或更精細(xì)的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的觀察與檢測(cè)也成為了檢驗(yàn)其品質(zhì)的關(guān)鍵。為加強(qiáng)技術(shù)交流,,分享先進(jìn)的制樣方法經(jīng)驗(yàn),。10月26日,,電子樣品顯微切片與無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研討會(huì)在松山湖材料實(shí)驗(yàn)室圓滿落幕。
本次研討會(huì)主要是技術(shù)交流與現(xiàn)場(chǎng)上機(jī)操作指導(dǎo),。參會(huì)人員不僅能現(xiàn)場(chǎng)交流分析與探討電子樣品顯微切片與無(wú)損檢測(cè)技術(shù),,更能現(xiàn)場(chǎng)近距離體驗(yàn)設(shè)備的操作與觀察樣品。
會(huì)議的開場(chǎng)由松山湖材料實(shí)驗(yàn)室研究員胡偉老師致辭,,歡迎各方到來(lái)的來(lái)賓參加此次會(huì)議,,并對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行介紹。
隨后由領(lǐng)拓的高級(jí)應(yīng)用工程師任飛霖講解了電子樣品切片分析的常見問(wèn)題解析及應(yīng)用分享,。再由領(lǐng)拓的高級(jí)應(yīng)用工程師鄒子康進(jìn)行電子樣品內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用分享,。最后由徠卡的高級(jí)應(yīng)用工程師包沈源博士進(jìn)行離子研磨技術(shù)在電子元器件的應(yīng)用探討。上半場(chǎng)的會(huì)議既有深刻的理論深度,,又有寶貴的應(yīng)用案例,干貨滿滿,,獲得了現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員的好評(píng)。
下半場(chǎng)對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行參觀,,并進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)上機(jī)操作指導(dǎo)。參觀過(guò)程中,,工作人員對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的設(shè)備進(jìn)行了詳細(xì)介紹,。同時(shí),領(lǐng)拓的應(yīng)用工程師還為參觀人員現(xiàn)場(chǎng)演示了樣品的檢測(cè)過(guò)程,,就現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員咨詢的問(wèn)題進(jìn)行了詳細(xì)解答及操作演示,。
實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)場(chǎng)

為了感謝大家的到來(lái),領(lǐng)拓團(tuán)隊(duì)還為現(xiàn)場(chǎng)的參會(huì)人員派發(fā)活動(dòng)券,,開展活動(dòng),,現(xiàn)場(chǎng)氛圍活躍,大家都積極參與活動(dòng),,爭(zhēng)當(dāng)幸運(yùn)兒,。活動(dòng)結(jié)束后還貼心的為大家準(zhǔn)備了茶歇以及午餐券。
領(lǐng)拓儀器對(duì)會(huì)議的安排以及在眾多設(shè)備的加持與公司實(shí)力的并存下,,客戶的滿意度直線上升。不少參會(huì)人員表示有機(jī)會(huì)的話下次還會(huì)參加,。
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