布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀

布魯克D8達芬奇X射線衍射儀

型號:D8 Advance

產(chǎn)地:德國

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光,。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID,、XRR)到點光源應用(織構(gòu),、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換,、重新對光等問題從此成為歷史!

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度,。

技術(shù)指標:                                          

Theta/theta 立式測角儀                              

2Theta角度范圍:-110～168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管                  

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

應用

物相定性分析

結(jié)晶度及非晶相含量分析

結(jié)構(gòu)精修及解析

物相定量分析

點陣參數(shù)精確測量

無標樣定量分析

微觀應變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應力

低角度介孔材料測量

織構(gòu)及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射