動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀D-SIMS 參考價(jià)：面議
ADEPT-1010 專(zhuān)為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動(dòng)分析而設(shè)計(jì),，是大 多數(shù)半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)和支持實(shí)驗(yàn)室的常用工具,。通過(guò)優(yōu)化的二次離子收集光學(xué)系統(tǒng) 和超高真空設(shè)計(jì)，...
3D納米x射線顯微鏡ct（高分辨率ct） 參考價(jià)：面議
3D納米x射線顯微鏡ct（高分辨率ct）Skyscan2214是一款用于顯微樣品三維成像的實(shí)驗(yàn)室級(jí)超高分辨率CT掃描儀,可對(duì)直徑為30cm,，長(zhǎng)度40cm樣品的內(nèi)...
微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng),，即SKYSCAN 微納米ct/高容量三維 X射線顯微鏡, 該探測(cè)器具有600萬(wàn)像素，視野范圍大,，輸出速度快,，15秒內(nèi)即可...
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)是一種基于X射線的成像技術(shù)，使用微型計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)（Micro Computed Tomography）,。包括掃描...
X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI X射線光電子能譜儀 提供了一種全新的用戶(hù)體驗(yàn),，儀器高性能、全自動(dòng)化,、簡(jiǎn)單易操作,。 操作界面可在同一個(gè)屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級(jí)的多功能測(cè)試參數(shù)，同時(shí)保留諸如進(jìn)...
少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：1000000
MDPspot少子壽命測(cè)試儀低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚,，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品,，無(wú)需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
X射線衍射儀高分辨透射及PDF散射系統(tǒng)檢測(cè) 參考價(jià)：面議
1） 6KW高強(qiáng)度Cu轉(zhuǎn)靶光源2） 垂直q/qATLAS測(cè)角儀Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二維探測(cè)器4） 液氦低溫系...
高分辨薄膜X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀察材料結(jié)構(gòu)變化,，探索材料合成條件；也可以用來(lái)探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安...
低電阻率測(cè)試儀（RESmap ） 參考價(jià)：面議
電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...
俄歇電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI公司的PHI 710俄歇電子能譜儀是一臺(tái)設(shè)計(jì)高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器,。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息,。
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀用于單面及雙面電池，HIT,、Topcon,、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池,、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德...
智能型釋光測(cè)試儀-地質(zhì)年代測(cè)定 參考價(jià)：面議
弗萊貝格Lexsygsmart（lexsyg smart智能型釋光儀--熱釋光/光釋光）智能型釋光系統(tǒng)是弗萊堡儀器與發(fā)光研究和測(cè)年實(shí)驗(yàn)室合作設(shè)計(jì)搭建的,，該系統(tǒng)用...
科研型釋光儀--地質(zhì)年代測(cè)定 參考價(jià)：面議
弗萊貝格lexsygresearch（lexsyg research科研型釋光儀--地質(zhì)測(cè)年）是一臺(tái)用于檢測(cè)釋光信號(hào)的系統(tǒng)，可廣泛用于熱釋光,、光釋光,、電離輻射激...
小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀 參考價(jià)：面議
德國(guó)弗萊貝格SDCOM--小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀能夠測(cè)量小至1mm的晶體到或更大的樣品，精度可達(dá)0.01°（視晶體質(zhì)量而定）,，其主要應(yīng)用ome...
X射線單晶定向儀-Omega掃描 參考價(jià)：面議
德國(guó)Freiberg Instruments（弗萊貝格儀器）公司的Omega/ThetaXRD（X射線單晶定向儀-Omega掃描）主要針對(duì)半導(dǎo)體晶體材料和光學(xué)材...
D8 X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光...
硬X射線光電子能譜儀HAXPES 參考價(jià)：面議
硬X射線光電子能譜儀HAXPES,，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(diǎn)(QDs)，結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPE...
高分辨率微焦點(diǎn)X射線顯微CT 參考價(jià)：面議
高分辨率微焦點(diǎn)X射線顯微CT*的掃描引擎—可變掃描幾何：可以提高成像質(zhì)量,，或?qū)呙钑r(shí)間縮短1/2到1/5,。
SKYSCAN 1272/1275X射線顯微CT 參考價(jià)：面議
地質(zhì)、石油和天然氣■測(cè)量孔隙網(wǎng)絡(luò)的性質(zhì),、晶粒大小和形狀■計(jì)算礦物相的3D分布■對(duì)珍貴樣品進(jìn)行3D數(shù)字化,如考古發(fā)現(xiàn)■分析動(dòng)態(tài)過(guò)程藥品和包裝■測(cè)量涂層厚度和活性成...
高分辨率X射線顯微CT——材料應(yīng)用 參考價(jià)：面議
高分辨率X射線顯微CT——材料應(yīng)用，是一種非破壞性的3D成像技術(shù),，可以在不破壞樣本的情況下清楚了解樣本的內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu),。它與普通臨床的CT大的差別在于分辨率*，可...
PDF-4 Axiom -精簡(jiǎn)版PDF-5+數(shù)據(jù)庫(kù) 參考價(jià)：200000
PDF-4 Axiom -精簡(jiǎn)版PDF-5+數(shù)據(jù)庫(kù),，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約多種科學(xué)研究領(lǐng)域,，如電池材料、熱電材料,、超導(dǎo)材料,、金屬材料、陶瓷材料,、礦物材料...
PDF-5+2025 參考價(jià)：200000
PDF-5+2025版數(shù)據(jù)庫(kù),所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域,如電池材料,熱電材料,超導(dǎo)材料,金屬材料,陶瓷材料,礦物材料,金屬合金,藥物,...
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+,，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
C60-40 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
C60-40 離子源系統(tǒng) 是目前性能較高的C60光束,，具有300納米的光斑尺寸和高達(dá)1毫安的束流,。從生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用到聚合物科學(xué)和冶金，C60-40都可以做到這一點(diǎn)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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