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對于高精度多光子FLIM，時間相關(guān)單光子計數(shù)（TCSPC）在測量精度方面非常優(yōu)秀,。就成像速度而言,，由于發(fā)射過程的隨機性,，要求檢測率遠(yuǎn)小于每個激發(fā)事件一個光子,，以防止壽命擬合中的不確定性，導(dǎo)致TCSPC在光子計數(shù)率方面受到了極大的限制,，于是,，激光掃描FLIM的采集時間大約需要幾分鐘才能完成,，然而在這個時間尺度上,，許多動態(tài)生物事件已經(jīng)發(fā)生并結(jié)束。為了克服該限制,，可以采用激光束陣列激發(fā)，并配合光電倍增管陣列或時間門控相機檢測系統(tǒng)來進(jìn)行并行信號采集實現(xiàn),。迄今為止,，由于多陽極PMT中的串?dāng)_，亦或是由于相機
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如何利用單光子計數(shù)相機實現(xiàn)散射介質(zhì)成像
美國麻省理工學(xué)院（MIT）媒體實驗室的研究人員已經(jīng)開發(fā)了一種新的成像系統(tǒng)：使用PF32SPAD陣列+TDC單光子計數(shù)相機和新的算法，測量被霧遮擋物體的距離,。在實驗中，該系統(tǒng)的表現(xiàn)比人類的視覺（因人的視線很難看穿霧氣）更好,，這對于自動駕駛來說是一個巨大的突破,。透過霧成像,，在自動駕駛汽車,、增強駕駛、飛機,、直升機、無人駕駛飛機和火車等行業(yè)中具有重要應(yīng)用價值和意義,。透過霧成像和被霧遮擋對象反射光信號的分布（高斯）相比，透過霧成像討論的是從霧反射光信號的時間分布（Gamma）,。這有助于區(qū)分從霧反射的背景光 -
如何利用單光子計數(shù)相機追蹤動態(tài)隱藏目標(biāo)
我們都知道,，在國內(nèi)外已經(jīng)有很多種技術(shù)可以重建隱藏對象的形貌,，但這些方法因為無法快速采集隱藏對象的有效信息,，因此對于隱藏對象的實時運動無能為力,，更加無法進(jìn)行實時跟蹤。而來自英國PhotonForce公司的PF32SPAD陣列+TDC單光子計數(shù)相機因其55ps的時間分辨率,、10bit時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及USB3.0（300k幀/秒）輸出接口,，毫無疑可以勝任動態(tài)隱藏目標(biāo)的實時追蹤。比如,，在障礙物無法物理穿越或者很危險的情況下,，能夠?qū)﹄[藏在角落或墻后移動物體的運動進(jìn)行探測并跟蹤的能力是非常關(guān)鍵且有優(yōu)勢的。 -
全新激光焦點分析儀SFM應(yīng)用于3D打印技術(shù)
激光光束測量專家德國PRIMES公司,，推出了一款全新的激光掃描參數(shù)測量設(shè)備,，該設(shè)備匹配選擇性激光熔化（SLM）3D打印技術(shù),。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦點分析儀是一款多功能一體化的激光光束診斷設(shè)備,。該激光焦點分析儀（SFM）適用于任何激光光束和激光掃描設(shè)備的診斷分析,，使用戶能夠輕松確定其激光光源的各種參數(shù)。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦點分析儀具有的設(shè)計,，旨在實現(xiàn)改進(jìn)的工藝優(yōu)化和系統(tǒng)認(rèn)證，從而使用戶能夠更好地校準(zhǔn)激光3D打印機,，以進(jìn)行工業(yè)3D打印,。來自PRI -
時間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng)TRPL Mapping
TRPLMapping系統(tǒng)簡介：時間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng)MicroTime100&FluoTime300將正置共聚焦熒光壽命顯微鏡和熒光壽命光譜儀結(jié)合在一起,，能實現(xiàn)幾百nm的空間分辨率和ps~s的熒光壽命測試和光譜測試,。能用于檢測：熒光共聚焦成像,、熒光壽命成像,、時間分辨光譜、穩(wěn)態(tài)激發(fā)/發(fā)射譜,、時間分辨熒光共聚焦顯微光譜,、自由選取ROI的微區(qū)（時間分辨）熒光成像和（時間分辨）光譜，并且支持升級單分子光譜功能（閃爍,，反聚束）、拓展了FLIM和紅外部分,，適用于諸多薄膜,、納米材料的研究,，是研 -
光纖微裂紋檢測儀以白光干涉為原理,，最初受限于延時纖的測量長度只能測試6cm,，使得測試場景非常局限,。經(jīng)過3年多的技術(shù)鉆研,，在剛剛過去的2022年里,，東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個難關(guān)，在光纖測量長度上實現(xiàn)了二連跳,，1月測量長度從最初的6cm升級至12cm,，10月測量長度從12cm升級至40cm,。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測儀測量長度直接升級至1m,，快速實現(xiàn)三級跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級,，都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗,。本次，光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,不僅為用戶解決匹配
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TCSPC時間相關(guān)單光子計數(shù)原理及系列推薦
TCSPC時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)是一種成熟且通用的單光子計數(shù)技術(shù),，是一種功能強大的分析方法,，目前廣泛應(yīng)用于熒光壽命測量,、時間分辨光譜、熒光壽命成像,、飛行時間測量等眾多領(lǐng)域，尤其是在生命科學(xué)和基礎(chǔ)物理學(xué)中使用,。此技術(shù)用于執(zhí)行超精確的熒光和磷光壽命測量,。TCSPC時間相關(guān)單光子計數(shù)系統(tǒng)基于的原理是：在記錄低強度、高重復(fù)頻率的脈沖信號時,，由于信號光強度很低，以至于在一個信號測量周期內(nèi)探測到一個光子的概率遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于1.因此,，不需要考慮在一個周期內(nèi)探測到幾個光子的情形,。只要記錄這些光子，測量他們在信號測量周 -
高分辨光學(xué)鏈路診斷儀OCI能精準(zhǔn)測量多分支光鏈路損耗
當(dāng)我們在使用光頻域反射（OFDR）技術(shù)檢測光鏈路,，不僅能獲得很高的空間分辨率的回波強度曲線,，而且利用背向散射法測損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個器件點的損耗,。當(dāng)光鏈路中有兩路以上的分支時,，各個分支的瑞利散射信號會混疊到一起，此時使用背向散射法就不能測試出各個分支光鏈路損耗情況,。但針對多分支光鏈路信號混疊在一起的情況下，本文給出了高分辨光學(xué)鏈路診斷儀OCI測試多分支光鏈路中各個分支鏈路損耗情況的方法,。背向散射法測損耗背向散射法是一種被測件DUT前一點的光功率作為測量回?fù)p（RL）的入射光功率,，進(jìn)而
