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光纖微裂紋檢測儀OLI如何實現(xiàn)光纖鏈路診斷和分析
原理介紹光在光纖中傳輸時,，絕大部分光為前向傳輸,，即通常所說的透射光。但由于光纖存在結(jié)構(gòu)不均勻，材料密度變化，雜質(zhì)或者離子摻雜等固有因素,，光粒子與光纖介質(zhì)（主要成分是二氧化硅）相互作用后，因為這些缺陷,，必然存在部分與入射光方向相反的光粒子,，形成了后向傳輸光，即通常所說的反射光,，并且此部分光不可消除,。標準良好的單模光纖中，瑞利散射是這些后向傳輸光最主要的形成原因,，（原理上,，瑞利散射后的光粒子方向是隨機的，這里因為我們主要檢測后向反射光,，所以只討論反射光強度）,。在光通信領(lǐng)域，通常引入回損概念RL（re -
德國PRIMES——掃描場焦點分析儀SFM監(jiān)測nLIGHT AFX-1000 3D打印環(huán)形激光
SFM激光振鏡掃描場焦點分析儀采用刻有10~15微米厚測量線玻璃板的技術(shù)表征激光光束特性,，光電二極管探測刻線的散射光來測量激光光斑在增材制造工業(yè)領(lǐng)域恩耐AFX－1000環(huán)形光斑激光器越來越受到關(guān)注。德國PRIMES公司的激光掃描場焦點分析儀ScanFieldMonitor（SFM）設(shè)計用于監(jiān)測激光振鏡掃描系統(tǒng)狀態(tài)以及維持增材制造3D打印加工質(zhì)量,，榮獲AKL2022激光技術(shù)創(chuàng)新獎一等獎,。本文展示了SFM對AFX－1000激光器不同模式光斑的一系列測量，揭示了SFM觀察到的模式振蕩的來源，光斑分布結(jié) -
光纖微裂紋診斷儀（OLI）如何快速對硅光芯片耦合質(zhì)量檢測,？
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能,，是5G通信,、大數(shù)據(jù)、人工智能,、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐,。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯(lián)質(zhì)量,。耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配,，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個微米,，幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配,。準確測量耦合位置質(zhì)量及硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，對硅光芯片設(shè)計和生產(chǎn)都變得十分有意義,。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質(zhì) -
目前在光伏業(yè)界，正在進行一項重大努力,，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本,。這就需要探索和開發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻,、缺陷更少的材料,。無論是電致還是光致發(fā)光，都是實現(xiàn)這一目標的重要工具,。通過發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過程,，而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復(fù)雜問題。HERA高光譜照相機是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備,，因為它能夠快速,、定量地繪制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性,。硅太陽能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會導(dǎo)致光伏產(chǎn)
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Q：光纖可以彎曲嗎,？A：答案是可以的,，因為在布線的過程中，網(wǎng)絡(luò)不彎曲幾乎難以實現(xiàn),，所以光纖可以彎曲,，但必須保證在一定彎曲范圍內(nèi),，才能將損耗降至低點。光纖彎曲的問題在實際項目中經(jīng)常會發(fā)生,，在項目中光纖彎曲,，有些操作人員，對光纖的可彎曲參數(shù)并不了解,，因此擔(dān)心會不會影響光纖的傳輸,。當(dāng)光從光纖的一端射入，從另一端射出時,，光的強度會減弱,，這意味著光信號通過光纖傳播后，光能量衰減了一部分,。這說明光纖中有某些物質(zhì)或因某種原因,，阻擋光信號通過。這就是光纖的傳輸損耗,。只有降低光纖損耗,，才能使光信號暢通無阻。光纖對
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單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)Luminosa
——新型基于單分子級別熒光共振能量轉(zhuǎn)移(smFRET)的動態(tài)結(jié)構(gòu)生物學(xué)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)量化單分子和時間分辨熒光技術(shù),，為很多生命科學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域提供了新的視野。迄今為止,，因為其數(shù)據(jù)采集和分析需要具備較為專業(yè)的背景知識,，使得該技術(shù)的普及非常緩慢。現(xiàn)在,，PicoQuant可以提供一款全新的共聚焦顯微系統(tǒng)——單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)Luminosa,，它具備先進的軟硬件組合，在簡化日常操作流程的前提下,，能有效的為操作者呈現(xiàn)高質(zhì)量的實驗數(shù)據(jù),。其配備的軟件為每種應(yīng)用技術(shù)都設(shè)定了標準化的引導(dǎo)操作流程。本文將 -
淺析高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀（OCI）測試大插損光纖鏈路損耗
武漢東隆科技有限公司自研的高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀（OCI）是基于光頻域反射技術(shù)（OFDR）,，單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷,，并且能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。據(jù)了解,，光頻域反射技術(shù)（OFDR）測試插損方式是依據(jù)事件點兩側(cè)瑞利散射信號幅值差異,，其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點。通常高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀（OCI）插損測量動態(tài)范圍為18dB,，反射式測量方式動態(tài)范圍為9dB,。當(dāng)待測鏈路中累積損耗超出9dB時，超出部分瑞利散射信號會被設(shè)備底噪淹沒,，給測試帶來誤差,。針對上訴情況,，本文借助光纖環(huán) -
Wasatch Photonics拉曼光譜儀多樣化的樣品耦合選擇
拉曼光譜儀是什么？拉曼光譜儀不僅需要將高強度的激光輸送到非常小的焦點,，同時還需要靈敏地檢測不到百萬分之一的散射光子。那么,，拉曼光譜儀如何將光傳遞到樣品并從樣品中收集光,，對收集的數(shù)據(jù)質(zhì)量和整套系統(tǒng)的最終靈敏度具有重大影響。拉曼光譜儀類型多種可選,，比如光纖耦合探頭&光譜儀,、帶定制光學(xué)元件的自由空間耦合光譜儀，或帶集成激光器的光譜儀系統(tǒng)——使用者會根據(jù)樣品類型,、環(huán)境和使用需求對拉曼光譜儀進行選擇,。在這篇技術(shù)講解文中，我們將根據(jù)多個示例,，討論每種耦合方法的優(yōu)缺點,，并針對如何獲得最佳結(jié)果進行探討。無論您的
