目錄:天津市能譜科技有限公司>>粉塵游離二氧化硅分析儀>>游離二氧化硅分析儀>> FC-3000D粉塵中游離二氧化硅分析儀
參考價(jià) | 面議 |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-07-15 08:19:39瀏覽次數(shù):6787評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)林牧漁 |
---|
產(chǎn)品描述
粉塵中游離二氧化硅分析儀產(chǎn)品詳細(xì)介紹電力和煤炭行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中粉塵的種類較多, 主要有矽塵,、煤塵,、鍋爐塵,、石棉塵,、水泥塵、電焊煙塵等, 其特點(diǎn)是粉塵中游離二氧化硅含量較高, 粉塵的分散度也比較高, 即多為呼吸性粉塵, 因此對(duì)接塵人員的危害較大,。根據(jù)生產(chǎn)性粉塵的理化性質(zhì),、空氣中濃度、進(jìn)入人體的量和作用部位, 產(chǎn)生的危害也有不同, 主要包括鼻炎,、咽炎,、氣管炎、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病,。我國(guó)政府以及電力和煤炭行業(yè)部門對(duì)防塵工作高度重視, 因此, 加強(qiáng)對(duì)粉塵中游離二氧化硅含量的檢測(cè)是一件非常重要和緊迫的工作,。以往檢測(cè)粉塵中游離二氧化硅含量, 均采用《作業(yè)場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定方法》(GB5748—85) 規(guī)定的“焦磷酸重量法”, 該方法存在操作步驟復(fù)雜,、使用試劑種類繁多、檢測(cè)周期長(zhǎng),、準(zhǔn)確性差,、試驗(yàn)室條件要求苛刻等一系列問題, 難以滿足現(xiàn)場(chǎng)批量檢測(cè)的要求。為了提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性, 實(shí)現(xiàn)批量檢測(cè)的目的,專門研制FC-2000D 粉塵中游離二氧化硅分析儀用來檢測(cè)粉塵中游離二氧化硅含量,,為滿足不同客戶的需求,,也推出了FC-3000D 粉塵中游離二氧化硅分析儀(采用*主機(jī)).進(jìn)口型具有精度高,速度更快,,軟件功能更強(qiáng)大等優(yōu)勢(shì),。
粉塵中游離二氧化硅分析儀技術(shù)參數(shù)
光譜范圍:370 - 7500cm-1
分辨率:≤1cm-1
信/噪比:優(yōu)于20,000:1(峰-峰值,1 分鐘測(cè)試) 優(yōu)于120,000:1(均方差值, 1 分鐘測(cè)試)
波數(shù)精度:0.01 cm-1
干涉儀:RockSolidTM zhuan利干涉儀,,鍍金光學(xué)鏡面,,300 光學(xué)補(bǔ)償設(shè)計(jì),
掃描速度:10 次/秒
電磁驅(qū)動(dòng),、無摩擦軸承,,光路永遠(yuǎn)準(zhǔn)直。
檢測(cè)器:采用DigiTectTM 技術(shù)的DLATGS 檢測(cè)器,,全數(shù)字化設(shè)計(jì)
紅外光源:陶瓷光源,,1550K
分束器:ZnSe 分束器,可在高濕度環(huán)境下正常操作
A /D 轉(zhuǎn)換:24 位,、高速Delta SigmaTM 型A/D 轉(zhuǎn)換器
儀器資格:自動(dòng)監(jiān)測(cè)
測(cè)量技術(shù):透射,、ATR、漫反射,、外反射
計(jì)算機(jī)接口:以太網(wǎng)
供電:100 - 240 VAC,、50 - 60 Hz、20 W,;可充電電池,交直流供電,,可直接連接汽車直流電源的適配裝置,。
電話:4000294299 傳真:86-22-86800320
儀器尺寸:22 x 30 x 25 cm (w x d x h)
重量:7 kg
粉塵中游離二氧化硅分析儀主要特點(diǎn)
光譜分析系統(tǒng);
出廠標(biāo)定光譜庫,;
誤差范圍:標(biāo)定量程的±2%u,;
能夠進(jìn)行未知?dú)怏w的自動(dòng)查找和判定;
多種分析量程進(jìn)行選擇,,適用于不同的應(yīng)用,;
能將測(cè)試數(shù)據(jù)輸出為文本格式利用EXCEL 進(jìn)行報(bào)表分析;
中文軟件說明書,,中文軟件界面,;
能不斷升級(jí)參考光譜庫,;
可進(jìn)行連續(xù)現(xiàn)場(chǎng)記錄存儲(chǔ),自動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)量光譜圖,;
可回放歷史數(shù)據(jù),;
數(shù)據(jù)通訊接口:以太網(wǎng)連接,可以加裝無線傳輸,;
樣氣室,;
多次反射光程氣體池大于2.5 米;
樣品室涂有抗腐蝕的鍍層,;
體積:小于0.1L,,體積小,;
附國(guó)標(biāo)檢測(cè)方法:
GBZ
中華人民共和國(guó)國(guó)家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)
GBZ/T 192.4—2007
工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定
第4部分:游離二氧化硅含量
Method for determination of dust in the air of workplace
Part 4: Content of free silica in dust
2007年06月18日發(fā)布 2007年12月30日實(shí)施
中華人民共和國(guó)衛(wèi)生部 發(fā) 布
前 言
GBZ/T 192根據(jù)工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定的特點(diǎn),,分為以下五部分:
——第1部分:總粉塵濃度
——第2部分:呼吸性粉塵濃度
——第3部分:粉塵分散度
——第4部分:游離二氧化硅含量
——第5部分:石棉纖維濃度
本部分是GBZ/T192的第4部分,是在GB 5748-85《作業(yè)場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定方法》,,GB16225-1996《車間空氣中呼吸性矽塵衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)》附錄B《粉塵游離二氧化硅X線衍射測(cè)定法》,,GB16245-1996《作業(yè)場(chǎng)所呼吸性煤塵衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)》附錄B《呼吸性煤塵中游離二氧化硅紅外光譜測(cè)定法》為基礎(chǔ)修訂而成的。
本部分由全國(guó)職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)提出,。
本部分由中華人民共和國(guó)衛(wèi)生部批準(zhǔn),。
本部分起草單位:華中科技大學(xué)同濟(jì)醫(yī)學(xué)院公共衛(wèi)生學(xué)院、武漢鋼鐵公司工業(yè)衛(wèi)生技術(shù)研究所,、東風(fēng)汽車公司職業(yè)病防治研究所,、武漢市職業(yè)病防治研究院、湖北省疾病預(yù)防控制中心,、福建省疾病預(yù)防控制中心,、遼寧省疾病預(yù)防控制中心、武漢分析儀器廠,。
本部分主要起草人:楊磊,、陳衛(wèi)紅、劉占元,、陳鏡瓊,、李濟(jì)超、易桂林,、楊靜波,、梅勇、彭開良,、劉家發(fā),、葉丙杰。
GBZ/T 192.4—2007
工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定
第4部分:游離二氧化硅含量
1 范圍
本部分規(guī)定了工作場(chǎng)所粉塵中游離二氧化硅含量的測(cè)定方法,。
本部分適用于工作場(chǎng)所粉塵中游離二氧化硅含量的測(cè)定,。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款,,通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的xin新版本,。凡是不注日期的引用文件,,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GBZ 159 工作場(chǎng)所空氣中有害物質(zhì)監(jiān)測(cè)采樣規(guī)范
GBZ/T XXX.1 工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定 第1部分:總粉塵濃度
GBZ/T XXX.2 工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定 第2部分:呼吸性粉塵濃度
3 術(shù)語和定義
本部分采用下列術(shù)語:
游離二氧化硅(Free silica)
指結(jié)晶型的二氧化硅,,即石英,。
4 焦磷酸法
4.1 原理
粉塵中的硅酸鹽及金屬氧化物能溶于加熱到245℃~250℃的焦磷酸中,游離二氧化硅幾乎不溶,,而實(shí)現(xiàn)分離,。然后稱量分離出的游離二氧化硅,計(jì)算其在粉塵中的百分含量,。
4.2 儀器
4.2.1 采樣器:同GBZ/T XXX.1和GBZ/T XXX.2,。
4.2.2 恒溫干燥箱。
4.2.3 干燥器,,內(nèi)盛變色硅膠,。
4.2.4 分析天平,感量為0.1mg,。
4.2.5 錐形瓶,,50ml。
4.2.6 可調(diào)電爐,。
4.2.7 高溫電爐,。
4.2.8 瓷坩堝或鉑坩堝,25ml,,帶蓋,。
4.2.9 坩堝鉗或鉑尖坩堝鉗。
4.2.10 量筒,,25ml,。
4.2.11 燒杯,200ml ~400ml,。
4.2.12 瑪瑙研缽。
4.2.13 慢速定量濾紙,。
4.2.14 玻璃漏斗及其架子,。
4.2.15 溫度計(jì),0℃~360℃,。
4.3 試劑
實(shí)驗(yàn)用試劑為分析純,。
4.3.1 焦磷酸,,將85%(W/W)的磷酸加熱到沸騰,至250℃不冒泡為止,,放冷,,貯存于試劑瓶中。
4.3.2 qing氟酸,,40%,。
4.3.3 酸銨。
4.3.4 鹽酸溶液,,0.1mol/L,。
4.4 樣品的采集
現(xiàn)場(chǎng)采樣按照GBZ 159執(zhí)行。
本法需要的粉塵樣品量一般應(yīng)大于0.1g,,可用直徑75mm濾膜大流量采集空氣中的粉塵,,也可在采樣點(diǎn)采集呼吸帶高度的新鮮沉降塵,并記錄采樣方法和樣品來源,。
4.5 測(cè)定步驟
4.5.1 將采集的粉塵樣品放在105℃±3℃的烘箱內(nèi)干燥2h,,稍冷,貯于干燥器備用,。如果粉塵粒子較大,,需用瑪瑙研缽研磨至手捻有滑感為止。
4.5.2 準(zhǔn)確稱取0.1000g~0.2000g(G)粉塵樣品于25ml錐形瓶中,,加入15ml焦磷酸及數(shù)毫克酸銨,,攪拌,使樣品全部濕潤(rùn),。將錐形瓶放在可調(diào)電爐上,,迅速加熱到245℃~250℃,同時(shí)用帶有溫度計(jì)的玻璃棒不斷攪拌,,保持15min,。
4.5.3 若粉塵樣品含有煤、其他碳素及有機(jī)物,,應(yīng)放在瓷坩堝或鉑坩堝中,,在800℃~900℃下灰化30min以上,使碳及有機(jī)物*灰化,。取出冷卻后,,將殘?jiān)媒沽姿嵯慈脲F形瓶中。若含有硫化礦物(如黃鐵礦,、黃銅礦,、輝銅礦等),應(yīng)加數(shù)毫克結(jié)晶酸銨于錐形瓶中,。再按照4.5.2加焦磷酸及數(shù)毫克酸銨加熱處理,。
4.5.4取下錐形瓶,,在室溫下冷卻至40℃~50℃,加50℃~80℃的蒸餾水至約40ml ~45ml,,一邊加蒸餾水一邊攪拌均勻,。將錐形瓶中內(nèi)容物小心轉(zhuǎn)移入燒杯,并用熱蒸餾水沖洗溫度計(jì),、玻璃棒和錐形瓶,,洗液倒入燒杯中,加蒸餾水約至150ml~200ml,。取慢速定量濾紙折疊成漏斗狀,,放于漏斗并用蒸餾水濕潤(rùn)。將燒杯放在電爐上煮沸內(nèi)容物,,稍靜置,,待混懸物略沉降,趁熱過濾,,濾液不超過濾紙的2/3處,。過濾后,用0.1mol鹽酸洗滌燒杯,,并移入漏斗中,,將濾紙上的沉渣沖洗3~5次,再用熱蒸餾水洗至無酸性反應(yīng)為止(用pH試紙?jiān)囼?yàn)),。如用鉑坩堝時(shí),,要洗至無磷酸根反應(yīng)后再洗3次。上述過程應(yīng)在當(dāng)天完成,。
4.5.5 將有沉渣的濾紙折疊數(shù)次,,放入已稱至恒量(m1)的瓷坩堝中,在電爐上干燥,、炭化,;炭化時(shí)要加蓋并留一小縫。然后放入高溫電爐內(nèi),,在800℃~900℃灰化30min,;取出,室溫下稍冷后,,放入干燥器中冷卻1h,,在分析天平上稱至恒量(m2),并記錄,。
4.5.6 計(jì)算 按式(1)計(jì)算粉塵中游離二氧化硅的含量:
...(1)
式中:SiO2(F)——游離二氧化硅含量,,%;
m1——坩堝質(zhì)量,g,;
m2——坩堝加沉渣質(zhì)量,g,;
G——粉塵樣品質(zhì)量,,g。
4.5.7 焦磷酸難溶物質(zhì)的處理
若粉塵中含有焦磷酸難溶的物質(zhì)時(shí),,如碳化硅,、綠柱石、電氣石,、黃玉等,,需用qing氟酸在鉑坩堝中處理。方法如下:
將帶有沉渣的濾紙放入鉑坩堝內(nèi),,如步驟4.5.5灼燒至恒量(m2),,然后加入數(shù)滴9mol/L硫酸溶液,使沉渣全部濕潤(rùn),。在通風(fēng)柜內(nèi)加入5ml~10ml 40%qing氟酸,,稍加熱,使沉渣中游離二氧化硅溶解,,繼續(xù)加熱至不冒白煙為止(要防止沸騰),。再于900℃下灼燒,稱至恒量(m3),。qing氟酸處理后游離二氧化硅含量按式(2)計(jì)算:
...(2)
式中:SiO2(F)——游離二氧化硅含量,,%;
m2——qing氟酸處理前坩堝加沉渣(游離二氧化硅+焦磷酸難溶的物質(zhì))質(zhì)量,,g,;
m3——qing氟酸處理后坩堝加沉渣(焦磷酸難溶的物質(zhì))質(zhì)量,g,;
G——粉塵樣品質(zhì)量,,g。
4.6 注意事項(xiàng)
4.6.1 焦磷酸溶解硅酸鹽時(shí)溫度不得超過250℃,,否則容易形成膠狀物,。
4.6.2 酸與水混合時(shí)應(yīng)緩慢并充分?jǐn)嚢瑁苊庑纬赡z狀物,。
4.6.3 樣品中含有碳酸鹽時(shí),,遇酸產(chǎn)生氣泡,宜緩慢加熱,,以免樣品濺失,。
4.6.4 用qing氟酸處理時(shí),必須在通風(fēng)柜內(nèi)操作,注意防止污染皮膚和吸入qing氟酸蒸氣,。
4.6.5 用鉑坩堝處理樣品時(shí),,過濾沉渣必須洗至無磷酸根反應(yīng),否則會(huì)損壞鉑坩堝,。
磷酸根檢驗(yàn)方法如下:
原理:磷酸和鉬酸銨在pH4.1時(shí),,用抗壞血酸還原成藍(lán)色。
試劑:①乙酸鹽緩沖液(pH4.1):0.025mol乙酸鈉溶液與0.1mol乙酸溶液等體積混合,,②1%抗壞血酸溶液(于4℃保存),,③鉬酸銨溶液:取2.5g鉬酸銨,溶于100ml的0.025mol硫酸中(臨用時(shí)配制),。
檢驗(yàn)方法:分別將試劑②和③用①稀釋成10倍,,取濾過液1ml,加上述稀釋試劑各4.5ml,,混勻,,放置20min,若有磷酸根離子,,溶液呈藍(lán)色,。
5 紅外分光光度法
5.1 原理
α-石英在紅外光譜中于12.5μm(800cm-1)、12.8μm(780cm-1)及14.4(694cm-1)μm處出現(xiàn)特異性強(qiáng)的吸收帶,,在一定范圍內(nèi),,其吸光度值與α-石英質(zhì)量成線性關(guān)系。通過測(cè)量吸光度,,進(jìn)行定量測(cè)定,。
5.2 儀器
5.2.1 瓷坩堝和坩堝鉗。
5.2.2 箱式電阻爐或低溫灰化爐,。
5.2.3 分析天平,,感量為0.01mg。
5.2.4 干燥箱及干燥器,。
5.2.5 瑪瑙乳缽,。
5.2.6 壓片機(jī)及錠片模具。
5.2.7 200目粉塵篩,。
5.2.8 紅外分光光度計(jì),。以X軸橫坐標(biāo)記錄900cm-1~600cm-1的譜圖,在900cm-1處校正零點(diǎn)和100%,,以Y軸縱坐標(biāo)表示吸光度,。
5.3 試劑
5.3.1 溴化鉀,優(yōu)級(jí)純或光譜純,,過200目篩后,,用濕式法研磨,于150℃干燥后,貯于干燥器中備用,。
5.3.2 無水乙醇,,分析純。
5.3.3 標(biāo)準(zhǔn)α-石英塵,,純度在99%以上,,粒度<5μm。
5.4 樣品的采集
根據(jù)測(cè)定目的,,樣品的采集方法參見GBZ 159 和GBZ/T XXX.2或GBZ/T XXX.1,濾膜上采集的粉塵量大于0.1mg時(shí),,可直接用于本法測(cè)定游離二氧化硅含量,。
5.5 測(cè)定
5.5.1 樣品處理:準(zhǔn)確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量(G)。然后將受塵面向內(nèi)對(duì)折3次,,放在瓷坩堝內(nèi),,置于低溫灰化爐或電阻爐(小于600℃)內(nèi)灰化,冷卻后,,放入干燥器內(nèi)待用,。稱取250mg溴化鉀和灰化后的粉塵樣品一起放入瑪瑙乳缽中研磨混勻后,連同壓片模具一起放入干燥箱(110℃±5℃)中10min,。將干燥后的混合樣品置于壓片模具中,,加壓25MPa,持續(xù)3min,,制備出的錠片作為測(cè)定樣品,。同時(shí),取空白濾膜一張,,同樣處理,,作為空白對(duì)照樣品。
5.5.2 石英標(biāo)準(zhǔn)曲線的繪制:精確稱取不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)α-石英塵(0.01mg ~1.00mg),,分別加入250mg溴化鉀,,置于瑪瑙乳缽中充分研磨均勻,按上述樣品制備方法做出透明的錠片,。將不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)石英錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描,,以800cm-1、780cm-1及694cm-1三處的吸光度值為縱坐標(biāo),,以石英質(zhì)量(mg)為橫坐標(biāo),,繪制三條不同波長(zhǎng)的α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線,并求出標(biāo)準(zhǔn)曲線的回歸方程式,。在無干擾的情況下,,一般選用800cm-1標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。
5.5.3 樣品測(cè)定:分別將樣品錠片與空白對(duì)照樣品錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描,記錄800cm-1(或694cm-1)處的吸光度值,,重復(fù)掃描測(cè)定3次,,測(cè)定樣品的吸光度均值減去空白對(duì)照樣品的吸光度均值后,由α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線得樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量(m),。
5.5.4 計(jì)算 按式(3)計(jì)算粉塵中游離二氧化硅的含量:
(3)
式中:SiO2(F)——粉塵中游離二氧化硅(α-石英)的含量,,%;
m——測(cè)得的粉塵樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量,,mg,;
G——粉塵樣品質(zhì)量,mg,。
5.6 注意事項(xiàng)
5.6.1 本法的α-石英檢出量為0.01mg,;相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差(RSD)為0.64%~1.41%。平均回收率為96.0%~99.8%,。
5.6.2 粉塵粒度大小對(duì)測(cè)定結(jié)果有一定影響,,因此,樣品和制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的石英塵應(yīng)充分研磨,,使其粒度小于5μm者占95%以上,,方可進(jìn)行分析測(cè)定。
5.6.3 灰化溫度對(duì)煤礦塵樣品定量結(jié)果有一定影響,,若煤塵樣品中含有大量高嶺土成分,,在高于600℃灰化時(shí)發(fā)生分解,于800cm-1附近產(chǎn)生干擾,,如灰化溫度小于600℃時(shí),,可消除此干擾帶。
5.6.4 在粉塵中若含有粘土,、云母,、閃石、長(zhǎng)石等成分時(shí),,可在800cm-1附近產(chǎn)生干擾,,則可用694cm-1的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。
5.6.5 為降低測(cè)量的隨機(jī)誤差,,實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)控制在18℃~24℃,,相對(duì)濕度小于50%為宜。
5.6.6 制備石英標(biāo)準(zhǔn)曲線樣品的分析條件應(yīng)與被測(cè)樣品的條件**,,以減少誤差,。
6 X線衍射法
6.1 原理
當(dāng)X線照射游離二氧化硅結(jié)晶時(shí),將產(chǎn)生X線衍射,;在一定的條件下,,衍射線的強(qiáng)度與被照射的游離二氧化硅的質(zhì)量成正比,。利用測(cè)量衍射線強(qiáng)度,對(duì)粉塵中游離二氧化硅進(jìn)行定性和定量測(cè)定,。
6.2 儀器
6.2.1 測(cè)塵濾膜,。
6.2.2 粉塵采樣器。
6.2.3 濾膜切取器,。
6.2.4 樣品板,。
6.2.5 分析天平,感量為0.01mg,。
6.2.6 鑷子,、直尺、秒表,、圓規(guī)等,。
6.2.7 瑪瑙乳缽或瑪瑙球磨機(jī)。
6.2.8 X線衍射儀,。
6.3 試劑
實(shí)驗(yàn)用水為雙蒸餾水。
6.3.1 鹽酸溶液,,6mol/L,。
6.3.2 qing氧化鈉溶液,100g/L,。
6.4 樣品的采集
根據(jù)測(cè)定目的,,樣品的采集方法參見GBZ 159和GBZ/T XXX.2或GBZ/T XXX.1,濾膜上采集的粉塵量大于0.1mg時(shí),,可直接用于本法測(cè)定游離二氧化硅含量,。
6.5 測(cè)定步驟
6.5.1 樣品處理:準(zhǔn)確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量(G)。按旋轉(zhuǎn)樣架尺度將濾膜剪成待測(cè)樣品4~6個(gè),。
6.5.2 標(biāo)準(zhǔn)曲線
6.5.2.1 標(biāo)準(zhǔn)α-石英粉塵制備:將高純度的α-石英晶體粉碎后,,首先用鹽酸溶液浸泡2h,除去鐵等雜質(zhì),,再用水洗凈烘干,。然后用瑪瑙乳缽或瑪瑙球磨機(jī)研磨,磨至粒度小于10μm后,,于qing氧化鈉溶液中浸泡4h,,以除去石英表面的非晶形物質(zhì),用水充分沖洗,,直到洗液呈中性(pH=7),,干燥備用?;蛴梅媳緱l要求的市售標(biāo)準(zhǔn)α-石英粉塵制備,。
6.5.2.2 標(biāo)準(zhǔn)曲線的制作:將標(biāo)準(zhǔn)α-石英粉塵在發(fā)塵室中發(fā)塵,,用與工作環(huán)境采樣相同的方法,將標(biāo)準(zhǔn)石英粉塵采集在已知質(zhì)量的濾膜上,,采集量控制在0.5mg~4.0mg之間,,在此范圍內(nèi)分別采集5~6個(gè)不同質(zhì)量點(diǎn),采塵后的濾膜稱量后記下增量值,,然后從每張濾膜上取5個(gè)標(biāo)樣,,標(biāo)樣大小與旋轉(zhuǎn)樣臺(tái)尺寸*。在測(cè)定α-石英粉塵標(biāo)樣前,,首先測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)硅在(111)面網(wǎng)上的衍射強(qiáng)度(CPS),。然后分別測(cè)定每個(gè)標(biāo)樣的衍射強(qiáng)度(CPS)。計(jì)算每個(gè)點(diǎn)5個(gè)α-石英粉塵樣的算術(shù)平均值,,以衍射強(qiáng)度(CPS)均值對(duì)石英質(zhì)量(mg)繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線,。
6.5.3 樣品測(cè)定
6.5.3.1 定性分析 在進(jìn)行物相定量分析之前,首先對(duì)采集的樣品進(jìn)行定性分析,,以確認(rèn)樣品中是否有α-石英存在,。儀器操作參考條件:
靶:CuKα;
掃描速度:2°/min,;
管電壓:30kV,;
記錄紙速度:2cm/min;
管電流:40mA;
發(fā)散狹縫:1°,;
量程:4000CPS,;
接收狹縫:0.3mm;
時(shí)間常數(shù):1s,;
角度測(cè)量范圍:10°≤2θ≤60°
物相鑒定:將待測(cè)樣品置于X線衍射儀的樣架上進(jìn)行測(cè)定,,將其衍射圖譜與《粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合委員會(huì)(JCPDS)》卡片中的α-石英圖譜相比較,當(dāng)其衍射圖譜與α-石英圖譜相*時(shí),,表明粉塵中有石英存在,。
6.5.3.2 定量分析
X線衍射儀的測(cè)定條件與制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的條件**。
6.5.3.2.1 首先測(cè)定樣品(101)面網(wǎng)的衍射強(qiáng)度,,再測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)硅(111)面網(wǎng)的衍射強(qiáng)度,;測(cè)定結(jié)果按式(4)計(jì)算:
...(4)
式中:IB——粉塵中石英的衍射強(qiáng)度,CPS,;
Ii——采塵濾膜上石英的衍射強(qiáng)度,,CPS;
Is——在制定石英標(biāo)準(zhǔn)曲線時(shí),,標(biāo)準(zhǔn)硅(111)面網(wǎng)的衍射強(qiáng)度,,CPS;
I——在測(cè)定采塵濾膜上石英的衍射強(qiáng)度時(shí),,測(cè)得的標(biāo)準(zhǔn)硅(111)面網(wǎng)衍射強(qiáng)度,,CPS,。
如儀器配件沒有配標(biāo)準(zhǔn)硅,可使用標(biāo)準(zhǔn)石英(101)面網(wǎng)的衍射強(qiáng)度(CPS)表示I值,。
由計(jì)算得到的IB值(CPS),,從標(biāo)準(zhǔn)曲線查出濾膜上粉塵中石英的質(zhì)量(m)。
6.5.4 計(jì)算 粉塵中游離二氧化硅(α-石英)含量
按式(5)計(jì)算:
(5)
式中:SiO2(F)——粉塵中游離二氧化硅(α-石英)含量,,%,;
m——濾膜上粉塵中游離二氧化硅(α-石英)的質(zhì)量,mg,;
G——粉塵樣品質(zhì)量,,mg。將M2-M1改為G,,與紅外法*,!
6.6 注意事項(xiàng)
6.6.1本法測(cè)定的粉塵中游離二氧化硅系指α-石英,其檢出限受儀器性能和被測(cè)物的結(jié)晶狀態(tài)影響較大,;一般X線衍射儀中,,當(dāng)濾膜采塵量在0.5mg時(shí),α-石英含量的檢出限可達(dá)1%,。
6.6.2粉塵粒徑大小影響衍射線的強(qiáng)度,,粒徑在10μm以上時(shí),衍射強(qiáng)度減弱,;因此制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的粉塵粒徑應(yīng)與被測(cè)粉塵的粒徑相*。
6.6.3單位面積上粉塵質(zhì)量不同,,石英的X線衍射強(qiáng)度有很大差異,。因此濾膜上采塵量一般控制在2mg~5mg范圍內(nèi)為宜。
6.6.4當(dāng)有與α-石英衍射線相干擾的物質(zhì)或影響α-石英衍射強(qiáng)度的物質(zhì)存在時(shí),,應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行校正,。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)