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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>產(chǎn)品展示
HORIBA PTI QuantaMaster 8000 熒光光譜儀超高靈敏度,，實現(xiàn)痕量和微量樣品測試PTI QuantaMaster 8000 系列模塊化研究...
HORIBA Duetta同步吸收熒光光譜儀Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度,，或用于測量真正的分子指紋,，這需...
HORIBA 熒光光譜儀Fluorolog-3HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）----熒光光譜儀器的*leader，提供全套穩(wěn)...
HORIBA 全自動熒光光譜儀FluoroMax-4HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）----熒光光譜儀器的全 球leader,，...
GeoPyc1365 全自動包裹密度分析儀GeoPyc使用一個的替代測試技術(shù),，使用一種具備高度流動性的微小剛性球狀準(zhǔn)流體物質(zhì)作為替代介質(zhì)，我們稱之為Dry Fl...
麥克默瑞提克 Gemini VII2390 全自動快速比表面積與孔隙度分析儀比表面積和孔隙度是影響許多材料和產(chǎn)品的質(zhì)量和用途的兩個重要的物理性質(zhì),，因此精確測定,、...
麥克默瑞提克 TRISTAR II PLUS 比表面積與孔隙度分析儀快速精確的比表面積測量TriStar II Plus是一款自動化分析并帶有三個分析站的比表面...
麥克默瑞提克 FT4 粉體流變儀除了擁有的動態(tài)測試 (Dynamic Methodology）這一測量粉體移動時對流動的阻力的方法之外，F(xiàn)T4還擁有測試粉體剪切...
麥克默瑞提克 ACCUPYC II 1345全自動氣體置換法真密度儀氣體比重瓶法是測量真實,，骨架,，表觀體積和密度 可靠的方法之一。該方法使用氣體置換法來測量體積...
KRUSS 旋轉(zhuǎn)滴界面張力儀SDTSDT 型旋轉(zhuǎn)滴界面張力儀憑借的測量精度,、寬廣的測量范圍,、較低的樣本量需求和簡易的樣品預(yù)處理方式，成為乳液和表面活性劑研發(fā)和質(zhì)...
KRUSS 滴體積法界面張力儀DVT50表面活性劑作為乳化劑的作用是基于其能降低互不相溶兩相間的界面張力的速度,。其應(yīng)用范圍能涵蓋非?？斓椒浅Ｂ募庸み^程，這使得...
KRUSS 氣泡壓力張力儀BP100氣泡壓力張力儀 – BP100能高精度測量動態(tài)表面張力,。通過對表面活性劑遷移特性的可靠分析,，來優(yōu)化噴涂,、鍍膜、印刷及去污等高...
KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20力學(xué)法表面張力儀–K20是一臺精確測量表面張力和界面張力的半自動儀器,，性能穩(wěn)定可靠,。環(huán)法和板法作為主要張力測試方法，K20為表...
弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺式雙面電池PID測試儀用于單面及雙面電池,，HIT,、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池,、晶體硅太陽能電池,、微...
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控,。用于HJT,、HIT、TOPcon,、雙面PERC...
弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場PID測試儀（PIDcheck）便攜式現(xiàn)場PID（電位誘發(fā)衰減）測試儀,，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝,，測試時間在8小時之內(nèi)（測...
MDPspot少子壽命測試儀低成本桌面單點測量硅片或晶磚,，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動化,?？蛇x手動操作的z軸厚度高達156毫米的硅磚樣品...
MDPlinescan在線少子壽命測試儀靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量,，從單晶硅磚到多晶硅磚,，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀MDPmap被設(shè)計成一個緊湊的臺式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā),，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵（μ-PCD）下,，在一個寬的...
德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電...
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