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初級(jí)會(huì)員 | 第8年

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臺(tái)式雙面電池PID測試儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)PIDcon bifacial

品       牌Freiberg Instruments

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2024-11-04 09:38:18瀏覽次數(shù):183次

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弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測試儀
用于單面及雙面電池,,HIT,、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池,、晶體硅太陽能電池,、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導(dǎo)退控制的測量解決方案。

弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測試儀



產(chǎn)品特點(diǎn)

用于單面及雙面電池,,HIT,、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池,、晶體硅太陽能電池,、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導(dǎo)退控制的測量解決方案。

詳細(xì)介紹


產(chǎn)品介紹:

雙面電池問題:        

將電池的后側(cè)改為光蓋,,被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對(duì)后側(cè)的新型PID敏感,,即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機(jī)制(PID-c),。


解決方案:        

為了測試電池的這些類型的PID,我們開發(fā)了PIDcon雙面體,。它是用溫度,、照明和高電壓對(duì)完整的電池進(jìn)行壓力測試,它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化,。通過測量照明下的IV曲線,,可以確定PID的靈敏度。


應(yīng)用:        

太陽能電池片PID檢測

HIT,、Topcon ,、PERC、AL-BSF,、PERC+,、雙面PERC、PERT,、PERL和IBC太陽能電池的研究,、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。



PIDcon bifacial的特點(diǎn):         

● 符合IEC62804-TS標(biāo)準(zhǔn)

● 易于使用的臺(tái)式設(shè)備

● 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊

● 無需氣候室

● 無需層壓電池

● 測量速度:小時(shí)至數(shù)天

● 可測量參數(shù):分流電阻,、功率損耗,、電導(dǎo)率、漏電流,、濕度,、溫度

● 太陽能電池可以在以后通過EL等進(jìn)行研究

● 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方


標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件:        

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測試時(shí)間:4hours(typical)

● 干燥條件下,不需要水



類型                          受壓                                                     恢復(fù)
PID-s正面                85°C,,+1.5 kV                             85°C,,-1.5 kV

PID-p背面             85°C,+1.5 kV,,無照明 85°C,,        暗儲(chǔ)存或光照

PID-c背面                   85°C,+1.5 kV,, 照明                    不可恢復(fù)

層壓      150°C,,20min

樣品尺寸   210×210mm

適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz


應(yīng)用實(shí)例:

2010年*報(bào)道了晶硅太陽能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽能電池顯示分流電阻度降低,。這種效應(yīng)被稱為電位誘導(dǎo)降解(PID)。

到目前為止,,PID測試主要在模塊上進(jìn)行,。模塊制造和氣候室測試需要大量的材料、設(shè)備和工作費(fèi)用,。

PIDcon是與FraunhoferCSP合作開發(fā)的,,目的是結(jié)合已建立的測試程序的優(yōu)點(diǎn):基于模塊的PID測試等現(xiàn)實(shí)的PID測試條件,,以及較低的時(shí)間和成本支出。



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