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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料高溫電學測試儀>>高溫介電測試儀>> 美國DSP-5000V型高溫高壓介電測試儀

美國DSP-5000V型高溫高壓介電測試儀
  • 美國DSP-5000V型高溫高壓介電測試儀
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  • 所在地 北京市
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更新時間:2025-06-23 14:06:11瀏覽次數:73評價

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產地類別 國產 應用領域 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合
?介電原理:材料的介電性能源于其在電場作用下的極化現象,。當材料置于電場中,內部的帶電粒子(如電子,、離子等)會發(fā)生相對位移,形成電偶極矩,。極化程度用介電常數衡量,,介電常數越大,表明材料在電場中儲存電能的能力越強,。介電損耗則反映了材料在極化過程中因能量損耗而產生的熱效應,。在交變電場中,材料的極化狀態(tài)隨電場頻率變化,,介電常數和介電損耗也隨之改變,。

關鍵詞:高溫,高壓5000V,,介電損耗,,阻抗

 

美國DSP-5000V型高溫高壓介電測試儀


  工作原理5

· 介電原理:材料的介電性能源于其在電場作用下的極化現象。當材料置于電場中,,內部的帶電粒子(如電子,、離子等)會發(fā)生相對位移,形成電偶極矩,。極化程度用介電常數衡量,,介電常數越大,表明材料在電場中儲存電能的能力越強,。介電損耗則反映了材料在極化過程中因能量損耗而產生的熱效應,。在交變電場中,,材料的極化狀態(tài)隨電場頻率變化,介電常數和介電損耗也隨之改變,。

· 測量原理:運用平行板電極原理,,將被測樣品置于上下平行電極之間,構成一個電容器,。當在電極間施加交流電壓時,,樣品會產生相應的電流響應。儀器通過測量該電流與施加電壓的相位差以及電流大小,,利用特定的算法計算出樣品的介電常數和介電損耗,。為確保測量準確,采用保護電極技術減少周圍空氣電容及寄生電容的影響,,同時內置高精度溫度傳感器,,結合加熱與控溫系統(tǒng),精準控制樣品所處溫度環(huán)境,,實現不同溫度下介電性能的測量,。

結構組成

· 加熱單元:一般位于儀器底部,為樣品提供穩(wěn)定的高溫環(huán)境,,確保溫度均勻性和穩(wěn)定性,,常見的加熱方式有紅外加溫等45

· 電極單元:安裝在加熱單元上方,,與樣品直接接觸,,負責施加電場并測量樣品的電響應。包括上電極,、下電極和保護電極,,電極材質通常為鉑銥合金等,如 GWGY-1000W 型高溫高壓介電溫譜儀的上電極是直徑 1.6mm 球頭電極,,引線帶同軸屏蔽層,,下電極是直徑 26.8mm 平面電極,引線帶同軸屏蔽層1,。

· 測試單元:由阻抗分析儀,、微電流表等組成,,負責采集樣品在不同溫度、電壓,、頻率下的電學數據,,如介電常數、介質損耗,、阻抗譜等4,。

· 數據處理單元:由計算機及測量軟件組成,通過智能電路把檢測設備采集的測控信號傳給計算機,,計算機根據采集的信息控制設備運行并處理試驗結果,,可自動分析數據,,分類保存,,并輸出 TXTXLSBMP 等格式文件14,。

技術參數

· 溫度范圍:室溫 - 1000,,測溫精度 0.1

· 外加電壓0-5000V,。

· 頻率10HZ-1MHZ2MHZ5MHZ,,10MHZ30MHZ 可選。

· 升溫速度1-20/min,。

· 控溫模式:程序控制,提供常溫、變溫、恒溫,、升溫,、降溫等多種組合方式,。

· 電極尺寸及材質:上電極直徑 1.6mm 球頭電極,,下電極直徑 26.8mm 平面電極,材質為鉑銥合金,,引線帶同軸屏蔽層,,帶保護電極。

· 樣品尺寸:無電極樣品直徑小于 40mm,,厚度小于 8mm;帶電極樣品直徑小于 26mm,,厚度小于 8mm,。

應用領域

· 材料科學研究:用于研究新型復合絕緣材料、高分子絕緣材料,、無機絕緣材料,、有機絕緣材料等在高溫高壓下的介電性能,幫助開發(fā)具有更好性能的新材料3

· 半導體行業(yè):可分析半導體材料在不同溫度和電場條件下的電學特性,,對于半導體器件的設計和制造具有重要意義,,如研究半導體薄膜在外加高壓下的性能變化1,。

· 電子行業(yè):有助于研究電子元器件中的絕緣材料,、電介質材料在高溫高壓環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性,,為電子設備的小型化,、高性能化提供技術支持,。

· 航空航天領域:用于測試航空航天材料在高溫高壓等條件下的介電性能,,確保材料在太空環(huán)境中的可靠性和安全性2,。

三、符合規(guī)范:

1,、GB/T 3389.7-1986壓電陶瓷材料性能測試方法

2,、GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

3,、GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

4、ASTM-D150-介電常數測試方法

5,、GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法

四,、主要技術參數:

1、 溫度范圍:  室溫-1000℃  測溫精度 0.1℃

2,、 外加電壓:0-5000V

3,、   率:10HZ-1MHZ,2MHZ,5MHZ,10MHZ,30MHZ可選

4、升溫速度 1—20,。C/min

5,、控溫模式 程序控制,提供常溫,、變溫,、恒溫、升溫,、降溫等多種組合方式

6,、通訊接   RS-485

7、溫度范圍  0—600℃,,0—800℃,,0—1000℃,

8,、測試頻率  200Hz—50MHz

9,、電極材質  鉑銥合金

10、上電極 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

11,、下電極  直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

12,、保護電極    帶保護電極,,消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

13,、電極干擾屏蔽   電極引線帶同軸屏蔽,,樣品平臺帶屏蔽罩

14、夾具升降控制   帶程序和手動控制,,可更換夾具的電動升降裝置

15,、熱電偶  熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉,測控溫度與樣品溫度保持一致

16,、無電極樣品尺寸      直徑小于40mm,,厚度小于8mm

17、帶電極樣品尺寸      直徑小于26mm,,厚度小于8mm

18,、軟件功能:自動分析數據,可以分類保存,,樣品和測量方案結合在一起,,生成系統(tǒng)所需的實驗方案,輸出TXT,、XLS,、BMP等格式文件

19、測量方案    提供靈活,、豐富的測試設置功能,,包括頻率譜、阻抗譜,、介電譜及其組合

20,、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口,

21,、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

22,、凈   重           22KG


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