EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法,。但是,，由于測量對象、測量方法,、測量環(huán)境,、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差，為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠,，有必要對其進(jìn)行不確定度分析,。
本產(chǎn)品能同時測量磁性基材表面（如鋼和鐵）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷,、鉻等）,，以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電鍍涂層（如油漆等）。本儀表內(nèi)置高精密一體化探頭,，同時運用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)兩種原理,，自動檢測基材屬性并探測涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結(jié)果,。同時,，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實時顯示統(tǒng)計值,。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值,、零校準(zhǔn)、多點校準(zhǔn),。全新的多點校準(zhǔn)和零校準(zhǔn),，讓您非常方便的隨時進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單,，確保您非常容易的使用它,。
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件,、半導(dǎo)體,、線路板、電容器等）,、鋼鐵材料鍍層（鐵,、鑄鐵、不銹鋼,、低合金,、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金,、鉛合金,、鋅合金、鎂合金,、鈦合金,、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析,。
EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù),，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層,、雙層,、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定,。
EXF鍍層測厚儀是能譜分析方法,，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后,，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號,；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機(jī)進(jìn)行處理；計算機(jī)*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度,。
EXF鍍層測厚儀能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理,；分析時間短,，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度,；分析測量動態(tài)范圍寬,，可從0.005μm到60μm。
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