M1型標(biāo)準(zhǔn)磁探試片

M1型試片用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏片）,，及磁化方向,、有效磁化范圍和在致的有效磁場度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。

規(guī)格：φ12（7/50）,、φ9（15/50）,、φ6（30/50）。2片/套

A1型標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 靈敏度試片
簡 介：
A1型靈敏度試片先主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中,，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具,。
A1型標(biāo)準(zhǔn)磁探試片特點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀,，使用簡便,。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí),，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn),。
性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2,；A1為退火材料制成,，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng),。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片,。相當(dāng)于A1型試片中2# （30/100μ）標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D,；適用于中靈敏度探傷,，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度,，單位為（微米）,，D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
A1型標(biāo)準(zhǔn)磁探試片使用方法：
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法,，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上,，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位,。
2、進(jìn)行外加懸場法,，對工件進(jìn)行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）,。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。
A1型標(biāo)準(zhǔn)磁探試片注意事項(xiàng)：
1、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好,。
2、試片用后請涂防銹油,。
3,、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用,。
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