D1型磁粉探傷試片特點：

D1型試片用于檢驗磁粉探傷設備,、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度）,，及磁化方向,、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程,。

A1型標準磁探試片 靈敏度試片
簡 介：
A1型靈敏度試片主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中,，對幾何形狀復雜,，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備,，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調試工具,。
A1型標準磁探試片特點：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀，使用簡便,。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時,，表現(xiàn)其*的優(yōu)點,。
性能規(guī)格：
A型標準試片分為A1,、A2；A1為退火材料制成,，A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應,。本試片為A1 （15/50μ）標準試片,。相當于A1型試片中2# （30/100μ）標準靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D,；適用于中靈敏度探傷,，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度,，單位為（微米）,，D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
A1型標準磁探試片使用方法：
1,、標準試片適宜于連續(xù)磁化法,，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上,，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位,。
2、進行外加懸場法,，對工件進行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）,。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。
A1型標準磁探試片注意事項：
1、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好,。
2,、試片用后請涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用,。
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