FT-330系列普通四探針方阻測試儀

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

1. 描述Description：

采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard：

硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造,；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

三.四探針方阻測試儀適用范圍Applicable scope：

適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具,；液晶顯示,，自動測量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，自動轉(zhuǎn)換量程,；采用AD芯片控制，恒流輸出,，選配：PC軟件,，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,，高,、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測試

四探針方阻測試儀