金屬涂層四探針方阻電阻率測(cè)試儀使用方法

雙電組合測(cè)試方法：

利用電流探針、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測(cè)量,，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,，適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.

金屬涂層四探針方阻電阻率測(cè)試儀使用方法

功能描述Description：

• 四探針組合雙電測(cè)量方法
• 液晶顯示,，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程,，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.
• 集成電路系統(tǒng),、恒流輸出.
• 選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
• 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

適用范圍Widely used：

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜,，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜,，金屬薄膜,，

4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等