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當(dāng)前位置：寧波瑞柯微智能科技有限公司>>技術(shù)文章>>四探針電阻率測(cè)試儀的探頭該如何選擇
四探針電阻率測(cè)試儀根據(jù)不同材料特性需要,，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,，還可對(duì)電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,。配探頭,，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
四探針電阻率測(cè)試儀具有測(cè)量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好、智能化程度高,、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
四探針電阻率測(cè)試儀適用于半導(dǎo)體材料廠,、器件廠,、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
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