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四探針電阻率測試儀根據(jù)不同材料特性需要,,探頭可有多款選配,。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體,、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,,還可對電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量,。配探頭,,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
四探針電阻率測試儀具有測量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好、智能化程度高,、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用簡便等特點(diǎn)。
四探針電阻率測試儀適用于半導(dǎo)體材料廠,、器件廠,、科研單位、高等院校對導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
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