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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻,、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：6．Q表正常工作條件 a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃,； b．相對濕度：80％,； c．電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz,。 7．其他 a．消耗功率：約25W,； b．凈重：約7kg,； c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗測試儀參數(shù) Q 值測量范圍 2 ～ 1023 固有誤差 ≤ 5 ％ 工作誤差 ≤7％ 電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍 1 ～ 200pF 主電容調節(jié)范圍 18 ～ 220pF 主電容調節(jié)準確度 1 ％ 信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz 頻率分段 （ 虛擬 ） 100 ～ 160MHz 產(chǎn)品型號：gdat-a所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗測試儀主要技術特性 Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ,， 量程分檔： 30 ,、 100 、 300 ,、 1000 ,，自動換檔或手動換檔 固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤8％ ± 滿度 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計,，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員,、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確，測量效率更高,。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位,。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量,。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。 主要可以測量電容器,，互感器,，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tg)和電容量( Cx)以,，其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品,。 產(chǎn)品型號：BDAT-B所在地：北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426室 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷,、電容器等陶瓷,，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了,，通用、多用途,、多量程的阻抗測試,。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)試驗儀主要特點： 空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京海淀建材城西路50號 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗是各種電瓷、裝置瓷,、電容器等陶瓷,，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了,，通用,、多用途、多量程的阻抗測試,。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區(qū)上地十街輝煌國際西6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細摘要：主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量,。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū)建材城西路50號 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)介質損耗測試儀專業(yè)供應商，如需請致電詳談,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細摘要：c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能,、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器,。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理,，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值,，電感量和分布電容量,；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質損耗（tanδ）和介電常數(shù)(ε),，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,，傳輸線的特性阻抗等進行測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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詳細摘要：北京北廣精儀儀器設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)測試儀,，： ,， 產(chǎn)品型號：所在地：北京市海淀區(qū) 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設備有限公司主營產(chǎn)品：絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數(shù)測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀
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