SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針,、電壓探針的變換,，進行兩次電測量,，能自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準確度
    使用本儀器進行測量時,，由于不需要進行幾何邊界條件和探針間距的修正,，因而對各種形狀的薄膜材料及片狀材料有廣泛的適用性。儀器特別適用于測量片狀半導體材料電阻率以及硅擴散層,、離子注入層,、異型外延層等半導體器件和液晶片導電膜、電熱膜等薄層(膜)的方塊電阻.
    儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,特別采用了平面輕觸式開關設計和各種工作狀態(tài)LED指示.并應用了微計算機技術,利用HQ-710F型微計算機作為測量控制及數(shù)據(jù)處理器,使得測量,、計算,、讀數(shù)更加直觀、快速,，并能打印全部預置和測量數(shù)據(jù),。

技術指標：
1、測量范圍：電阻率：0.001－200Ω.cm(可擴展)
薄層電阻:0.01-2000Ω/口(可擴展)
可測晶片厚度：≤3.00mm
2,、恒流電源:電流分為100mA,、1mA、10mA,、 100ma 四檔 ,；連續(xù)可調(diào)；穩(wěn)定度優(yōu)于0.3% 
3,、數(shù)字電壓表：量程：0－199.99mV;分辨率：0.01mV精度：±0.1%
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示,。極性、小數(shù)點、超量程自動顯示,；
4,、模擬電路測試誤差：(用1、10,、100,、1000 ?精密電阻測量)≤±0.3%±1字;
5、整機準確度：(用0.01至180Ω.cm硅標樣片測試)≤4%
6,、微計算機功能：
A 鍵盤控制測量取數(shù),，自動控制電流換向和電流、電壓探針的變換,，并進行正,、反向電流下的測量，顯示出平均值
B 鍵盤控制數(shù)據(jù)處理,，按內(nèi)存公式計算出薄層電阻或電阻率平均值以及百分變化,。
C 鍵盤控制打印全部測量數(shù)據(jù)。包括測量條件,，各次測量平均值,、zui大值、zui小值,，百分變化等數(shù)據(jù),。
7、外形尺寸：電氣主機：360mm×320mm×100mm,； 微計算機：300mm×210mm×105mm
8,、儀器重量：電氣主機：約4kg；測試架(J-2A型):約5kg;微計算機:約2.5kg;
9,、電源：AC 220V±10%,50Hz,功率<25W
10,、測試環(huán)境：溫度23±2℃；相對濕度≤65％,；無高頻干擾,；無強光照射。