目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>激光橢偏儀>> SE 400adv多角度激光橢偏儀
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更新時(shí)間：2024-07-10 09:31:20瀏覽次數(shù)：1118評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池 |
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亞埃精度
多角度激光橢偏儀穩(wěn)定的氦氖激光器保證了0.1埃精度的超薄單層薄膜厚度測(cè)量。
擴(kuò)展激光橢偏儀的極限
多角度激光橢偏儀性能優(yōu)異的多角度手動(dòng)角度計(jì)和角度精度*的激光橢偏儀允許測(cè)量單層薄膜和層疊膜的折射率,、消光系數(shù)和膜厚,。
高速測(cè)量
我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測(cè)量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長(zhǎng)和終點(diǎn)檢測(cè)，或者做樣品均勻性的自動(dòng)掃描,。
激光橢偏儀SE 400adv可用于從可選擇的,、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,。多角度測(cè)量的集成支持(40°—90°,5°步進(jìn)),，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù),。為了補(bǔ)償激光橢偏測(cè)量中厚度測(cè)量的模糊性,，在厚度測(cè)量中也采用了多角度測(cè)量。
SENTECH激光橢偏儀SE 400adv,，用于超薄單層薄膜的厚度測(cè)量,。小型臺(tái)式儀器由橢偏儀光學(xué)部件、角度計(jì),、樣品臺(tái),、自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡、氦氖激光光源和檢測(cè)單元組成,。我們的激光橢偏儀SE 400adv的選項(xiàng)支持在微電子,、光伏、數(shù)據(jù)存儲(chǔ),、顯示技術(shù),、生命科學(xué)、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用,。
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