濕熱試驗(yàn)箱用途介紹

東莞中科測試設(shè)備是濕熱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備專業(yè)制造商,。設(shè)備應(yīng)用于軍工研發(fā)、高校院所科研,、汽車摩托車配套,、化工冶金、電子元?dú)饧?、手機(jī)電池,、筆記本電腦、液晶顯示器,、半導(dǎo)體材料與芯片制備,、化學(xué)化工、生物制藥在高溫,、低溫,、恒溫、濕熱等環(huán)境下貯存和使用時的適應(yīng)性測試試驗(yàn),。溫濕度線性交變試驗(yàn)箱是檢測新產(chǎn)品時模擬冷熱循環(huán)線性,、高溫高濕線性、高溫中濕線性,、高溫低濕線性,、低溫中濕線性,、低溫低濕線性等氣候環(huán)境的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。

濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)性能

1. 工作室容積：80L,，120L,，150L，225L,，306L,，408L，800L,，1000L,。

2. 溫度范圍：0～+150℃；-20～+150℃,；-40～+150℃,；-60～+150℃；-70～+150℃,。

3. 濕度范圍：20%～98%R.H,。（選購：5%～98%R.H或10%～98%R.H，溫濕度全程同步線性,。）

4. 溫度穩(wěn)定度：±0.5℃,。

5. 濕度穩(wěn)定度：±1.0%R.H。

6. 溫度均勻度：±2.0℃,。

7. 濕度均勻度：±3.0%R.H,。

8. 溫濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H。

9.升溫速率：3℃～4℃/min,。（選購：5℃/min,、10℃/min、15℃/min,、20℃/min,、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機(jī)型,。）

10.降溫速率：0.7℃～1℃/min。（選購：5℃/min,、10℃/min,、15℃/min、20℃/min,、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機(jī)型。）

11. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304#鏡面不銹鋼,。

12. 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)寶鋼冷軋鋼板靜電噴塑防腐處理,。

13. 制冷系統(tǒng)：*壓縮機(jī)低噪音模塊化設(shè)計(jì)風(fēng)冷或水冷制冷機(jī)組,。

14. 加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱,、耐寒加熱管,，加熱空氣式控溫。

15. 加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器,，均勻濕氣發(fā)生裝置,。

16. 節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱）,，比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%,。

17. 制冷劑：R404a/R23。

18. 制冷方式：機(jī)械單級制冷或二元復(fù)疊制冷,。

19. 保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載,、過流、超壓保護(hù),；漏電保護(hù),；內(nèi)箱超溫保護(hù)；加熱管空焚保護(hù),。

20. 標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個,；LED視窗燈一支；保險管2支,；物料架2套,。

21. 電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

22. 設(shè)備型號和規(guī)格可供選擇如下：

 型 號           內(nèi)箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）  

ZK- HWS-80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-HWS-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-HWS-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-HWS-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-HWS-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-HWS-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-HWS-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標(biāo)定做......

濕熱試驗(yàn)測試箱參考標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫,。

2.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫,。

3.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定試驗(yàn)。

4.GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化,。

5.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則,。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn),。

8.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

9.GB2423.3-2006（IEC68-2-3）試驗(yàn)CA：恒定濕熱試驗(yàn)方法。

10.GB2423.4-2008（IEC68-2-30）試驗(yàn)CB：交變濕熱試驗(yàn)方法,。