溫度濕度偏壓試驗箱THB test概述

1.Temperature Humidity Bias Test是通過溫度30℃/60%R.H,、30℃/85%R.H,、60℃/60%R.H、85℃/60%R.H,、85℃/85%R.H的相對濕度及1.1Vcc（靜態(tài)）對半導體器件,、IC芯片,、集成電路、IC封裝,、CPU芯片進行1000小時的高溫,、高濕、高電壓同步線性測試,。其中可以在168小時和500小時停下來做高低溫循環(huán)測試,、冷熱循環(huán)測試、溫濕度循環(huán)測試,、高低溫交變測試等各種測試試驗250次溫濕度循環(huán),，其主要的試驗目的是加入偏壓激發(fā)鋁金屬的腐蝕，提供加速鋁腐蝕所需電解作用,。測試溫度均勻度高達±0.3℃,。

2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式，有開機自檢功能,、溫度線性校正,、自動停機、系統(tǒng)預約定時啟動功能,；實現(xiàn)工業(yè)自動化,，帶數(shù)據(jù)交互功能，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控,，了解設備運行狀態(tài),，可以通過任何移動終端監(jiān)控。

溫度濕度偏壓試驗箱THB test性能指標

1.溫度范圍：-40℃～+150℃,；-50℃～+150℃,；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃,。（高溫可定制：+250℃）

2.濕度范圍：20%～98%R.H。（可定制：5%～98%R.H或10%～98%R.H,，滿足溫濕度同步線性測試,。）

3.重點測試的溫濕度點：30℃/60%R.H、30℃/85%R.H,、60℃/60%R.H,、85℃/60%R.H、85℃/85%R.H,。

4.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃,。

5.溫度均勻度：±1.5℃。

6.升溫速率：3℃～4℃/min平均值,。（可定制溫變速率為：5℃/min,；10℃/min,；15℃/min；20℃/min,；25℃/min,，線性與非線性溫變。）

7.降溫速率：0.7℃～1℃/min平均值,。（可定制溫變速率為：5℃/min,；10℃/min；15℃/min,；20℃/min,；25℃/min，線性與非線性溫變,。）

8.制冷系統(tǒng)：*壓縮機及制冷配件模塊化機組設計,，方便日常維護與保養(yǎng)。

9.制冷方式：機械壓縮單級制冷或二元復疊制冷（風冷或水冷）,。

10.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱,、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫,。

11.節(jié)能方式：冷端PID調節(jié)（即加熱不制冷,，制冷不加熱），比平衡調溫方式節(jié)能30%,。

12.標準配置：觀測窗一個,；LED視窗燈一支；保險管2支,；物料架2套,。

13.噪音處理：整機運行時≤60dB（*），滿足萬級高精無塵環(huán)境車間制備工藝需求,。

14.前端空氣經干燥過濾器處理,，產品測試區(qū)及附近無明顯結露現(xiàn)象。設備可以連續(xù)運轉不需進行除霜,。

15.保護裝置：壓縮機過載,、過流、超壓保護,、漏電保護,、內箱超溫保護、加熱管空焚保護,。

16.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%,。

17.溫度濕度偏壓試驗箱可供選擇的型號及規(guī)格如下：

 型 號          內箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）

ZK-HWS -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-HWS-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-HWS-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-HWS-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-HWS-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-HWS-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-HWS-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標定制......

溫度濕度偏壓試驗箱參考標準

1.JESD22-A101-D。

2.EIAJED- 4701-D122。

3.MIT-STD-883E Method 1010.7,。

4.JESD22-A104-A,。

5.EIAJED- 4701-B-131。

6.MIT-STD-883E Method 1008.2,。

7.JESD22-A103-A,。

8.EIAJED- 4701-B111。

9.MIT-STD-883E Method 1005.8,。

10.JESD22-A108-A,。

11.EIAJED- 4701-D101。