TC設備-冷熱循環(huán)試驗箱概述

1.TC設備主要應用于半導體元器件,、IC芯片,、集成電路封裝、晶片級集成電路,、硅基半導體芯片,、碳基芯片等產(chǎn)品進行高低溫測試、冷熱循環(huán)測試,、溫度沖擊測試,、高溫變老化測試，模擬集成電路在不同使用環(huán)境中的高低溫電性能檢測,，測試溫度精度高達±0.3℃,。

2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式，有開機自檢功能,、溫度線性校正,、自動停機、系統(tǒng)預約定時啟動功能,；實現(xiàn)工業(yè)自動化,，帶數(shù)據(jù)交互功能，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控,，了解設備運行狀態(tài),，可以通過任何移動終端監(jiān)控。

TC設備-冷熱循環(huán)試驗箱性能指標

1.溫度范圍：-40℃～+150℃,；-50℃～+150℃,；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃,。（高溫可定制：+250℃）

2.試驗測試溫度范圍：-40℃～+85℃,；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃,。（可根據(jù)試驗要求選擇溫度范圍）

3.試驗測試方式：高低溫循環(huán)試驗,、冷熱循環(huán)試驗、高低溫恒定試驗,、高低溫交變試驗,。

4.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃。

5.溫度均勻度：±1.5℃,。

6.升溫速率：3℃～4℃/min平均值,。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min；15℃/min,；20℃/min,；25℃/min，線性與非線性溫變,。）

7.降溫速率：0.7℃～1℃/min平均值,。（可定制溫變速率為：5℃/min；10℃/min,；15℃/min,；20℃/min；25℃/min,，線性與非線性溫變,。）

8.制冷系統(tǒng)：*壓縮機及制冷配件模塊化機組設計，方便日常維護與保養(yǎng),。

9.制冷方式：機械壓縮單級制冷或二元復疊制冷（風冷或水冷）,。

10.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐熱、耐寒加熱管,，加熱空氣式控溫,。

11.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱）,，比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%,。

12.標準配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支,；保險管2支,；物料架2套。

13.噪音處理：整機運行時≤60dB（*）,，滿足100萬級無塵車間生產(chǎn)工藝需求,。

14.前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理，產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結(jié)露現(xiàn)象,。設備可以連續(xù)運轉(zhuǎn)不需進行除霜,。

15.保護裝置：壓縮機過載、過流,、超壓保護,、漏電保護、內(nèi)箱超溫保護,、加熱管空焚保護,。

16.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

17.高低溫試驗箱可供選擇的型號及規(guī)格如下：

 型 號          內(nèi)箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）

ZK-GDW -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-GDW-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-GDW-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-GDW-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-GDW-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-GDW-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-GDW-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標定制......