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X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）,、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) ,、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）,、光電直讀光譜儀（OES）,、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）,、液相色譜儀（LC）,、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）,、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等,。產(chǎn)品主要應用領域有電子電器、五金塑膠,、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）,、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs,、銻Sb,、鋇Ｂa、鎘Cd,、鉻Cr,、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材（水泥,、玻璃,、陶瓷、耐火材料等）,、合金（銅合金,、鋁合金、鎂合金等）,、冶金（鋼鐵、稀土,、鉬精礦,、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）,、塑料（無鹵測試等）,、石油化工、高嶺土,、煤炭,、食品、空氣,、水質,、土壤、環(huán)境保護,、香精香料,、紡織品、醫(yī)藥,、商品檢驗,、質量檢驗、醫(yī)療器械重金屬含量測試,、人體微量元素和化合物檢驗等等,。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試,，電鍍鍍層厚度檢測等,。下面介紹電鍍膜厚檢測儀器：

鍍層檢測：

2.1,、常見金屬鍍層有：

2.2,、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內，

可最小測量達0.001um,。

2.3,、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4,、鍍層層數(shù)為1-6層

X射線膜厚測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢：

1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層,，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內,。

2. 激光定位和自動多點測量功能,。

可檢測固體、粉末狀態(tài)材料,。

運行及維護成本低,、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低,。

可進行未知標樣掃描,、無標樣定性，半定量分析,。

操作簡單,、易學易懂、精準無損,、高品質,、高性能、高穩(wěn)定性,，快速出檢測結果,。

可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

軟件*升級,。

無損檢測,，一次性購買標樣可長期使用。

使用安心無憂,，售后服務響應時間24H以內,，提供*保姆式服務。

可以遠程操作,，解決客戶使用中的后顧之憂,。

可進行RoHS檢測（選配功能），應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,，歐盟及北美RoHS檢測等要求標準,，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞,、鎘,、鉻、鋇,、銻,、硒、砷等重金屬,，測試無鹵素指令中的溴,、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

（二）X射線膜厚測試儀產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉換器）

Multi Ray. 運用基本參數(shù)（FP）軟件,，通過簡單的三步進行無標樣標定,，使用基礎參數(shù)計算方法，對樣品進行精確的鍍層厚度分析,，可以增加RoHS檢測功能,。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍層厚度測量

相對（比）模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應 [如：Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊,?？赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較,、減法運算和配給,。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件?？梢淮涡苑治?5種元素。小二乘法計算峰值反卷積,。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析,。金屬分析精度可達+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray,。含全元素,、內部元素、矩陣校正模塊

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

完整的統(tǒng)計函數(shù)均值,、 標準差,、 低/高讀數(shù)，趨勢線,，Cp 和 Cpk 因素等

自動移動平臺,，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件,。每個階段的文件有多 25 個不同應用程序,。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包,。包括自動對焦功能,、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝,、激光定位和自動多點測量功能,。

（三）X射線膜厚測試儀產(chǎn)品配置及技術指標說明

X射線管：高穩(wěn)定性X光光管

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口,， 陽極焦斑尺寸75um,，油絕緣,，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽,。

50kV,，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供優(yōu)異性能,。

探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀