微位移測量激光干涉儀(型M800,,德國JENAer公司生產(chǎn),,*)
- 公司名稱 上海貝丁漢工業(yè)自動化設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2018/5/19 11:48:58
- 訪問次數(shù) 1451
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產(chǎn)品功能
ZLM800微位移測量激光干涉儀——雙頻激光干涉儀,,主要用于各種平臺和部件的微位測量、各種擺鏡角度變化量的監(jiān)測,、運(yùn)動平臺位移量和角度變化的檢測,、光刻機(jī)幾何量的測量、數(shù)控機(jī)床幾何量的測量等,,zui多可實(shí)現(xiàn)六軸聯(lián)動,。也可通過位移+偏擺+俯仰的三角關(guān)系檢測物體的振動變化。
1.納米級的多軸聯(lián)動位移,、速度,、加速度的動靜態(tài)測量分析及運(yùn)動控制環(huán)同步測量校準(zhǔn);
2.同步實(shí)時(shí)測量多軸聯(lián)動驅(qū)動部件的俯仰,、扭擺,、滾動的角位移變化, X-Y-Z 軸的聯(lián)動插補(bǔ)位移誤差及驅(qū)動匹配誤差分析;
3.納米級振動的多軸向同步數(shù)據(jù)采集測量和分析,。
性能優(yōu)勢 技術(shù)參數(shù)
32 Bit (實(shí)時(shí)時(shí)間)
Dt » 20 ns
應(yīng)用案例



ZLM800部分光路圖示例

從X、Y和Z方向同時(shí)測量位移變化,,其中X和Y在一個水平層面上







資料下載復(fù)雜光路測量的應(yīng)用.pdf
系統(tǒng)應(yīng)用簡介.pdf
