Sensofar S neox高精度工業(yè)三維檢測新時代

在微納米尺度上,，表面形貌的精確測量已成為制造和科研突破的關鍵瓶頸,。傳統(tǒng)測量設備在面對復雜材質、陡峭斜率或跨尺度粗糙度時,，往往陷入精度不足,、效率低下或模式切換繁瑣的困境——直到Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀的出現(xiàn)，重新定義了表面測量的可能性邊界,。

一,、多技術融合：傳統(tǒng)的測量范式

S neox的革命性突破在于創(chuàng)造性地將共聚焦顯微鏡、白光干涉儀和相位差干涉儀三大精密測量技術集成于單一平臺,。這種“三合一”設計擺脫了傳統(tǒng)設備需手動更換硬件模塊的束縛,，用戶僅需輕點軟件界面，即可在毫秒間實現(xiàn)測量模式的智能切換,。這一創(chuàng)新不僅大幅提升工作效率,，更使用戶以單臺設備的投入，同時獲得三類頂級儀器的測量能力,，顯著降低綜合成本,。137

更值得關注的是其Ai多焦面疊加技術，作為第四種核心測量模式,，專為攻克大粗糙度表面而研發(fā),。通過主動照明與智能算法協(xié)同，它能在毫米/秒級速度下完成高斜率表面（最高支持86°傾角）的精準捕獲,，解決了傳統(tǒng)共聚焦在低倍率下測量粗糙表面的技術盲區(qū),，特別適用于模具、鑄造件等工業(yè)場景,。148

二、性能：納米世界的超清視野

橫向分辨率達0.10μm：在150倍高數(shù)值孔徑鏡頭（NA 0.95）支持下,，共聚焦模式展現(xiàn)出超越光學顯微鏡的橫向分辨能力,，可清晰解析微電子器件的臨界尺寸，即使面對70°光滑斜面或86°粗糙陡坡,，仍能保持納米級的Z軸重復性精度,。156

亞納米級縱向分辨率：相位差干涉模式專為超光滑表面設計，即使使用2.5倍鏡頭進行大視場測量,，仍能穩(wěn)定輸出亞納米級分辨率數(shù)據,，為光學元件、晶圓表面提供測量保障,。17

白光干涉全場納米精度：無論放大倍數(shù)如何變化,，白光干涉模式始終保持納米級縱向分辨率，成為各類材料表面形貌分析的通用利器。26

三,、速度革命：180 fps重新定義檢測效率

S neox搭載新一代智能算法與高性能相機,，將數(shù)據采集速度推至驚人的180幀/秒，比前代設備快5倍以上,，堪稱快的區(qū)域測量系統(tǒng)之一,。這種速度優(yōu)勢在批量檢測場景中尤為突出——例如在汽車制造業(yè)中，單個模具的完整三維形貌可在數(shù)分鐘內完成采集分析,，真正實現(xiàn)工業(yè)級高通量檢測,。48

四、全場景覆蓋：從實驗室到生產線的力

材質普適性：金屬,、陶瓷,、聚合物、生物組織...無論樣品光學特性如何變化,，S neox幾乎覆蓋所有類型表面的形貌測量需求16

跨尺度測量：從亞納米級薄膜厚度到毫米級粗糙度,，從微米級芯片結構到12英寸晶圓，系統(tǒng)通過模塊化平臺設計（支持4-12英寸樣品臺）滿足多樣化尺寸需求357

真彩色還原技術：采用三色LED交替照明與像素級融合算法,，生成高保真彩色共聚焦圖像,，相比傳統(tǒng)像素插值技術，顯著提升色彩還原真實性,，為生物材料,、涂層分析提供關鍵信息16

五、智能操作與精準追溯：體驗與可靠性的雙重保障

SensoSCAN軟件系統(tǒng)以直觀的交互界面降低操作門檻,，即使新手用戶也能快速完成專業(yè)級測量,。針對工業(yè)質量控制場景，SensoPRO模塊提供完整的自動化解決方案：從條形碼識別,、權限管理到程序存儲和報告生成,，支持7×24小時連續(xù)運行。48

為確保測量數(shù)據的全球可追溯性,，每臺設備出廠前均采用ISO 25178標準認證的參比樣塊進行校準,，并隨附完整計量報告。LED光源壽命長達50,，000小時,，較激光光源提升25倍，且避免激光散斑現(xiàn)象,，保證設備在全生命周期內的測量穩(wěn)定性,。48

一臺測量頭，四維技術融合,。S neox如同一位掌握多國語言的表面形貌翻譯官,，將共聚焦的銳度、干涉測量的精度、多焦面疊加的廣度與真彩色的真實度融于一體,，在納米與毫米的尺度間架起無失真的溝通橋梁,。

作為西班牙Sensofar公司二十年技術積淀的之作，S neox已在全球數(shù)百個實驗室和生產線中發(fā)揮核心作用,。無論您是研發(fā)原子層沉積的科學家,，還是管控模具精度的工程師，或是分析生物材料表面的研究者,，它都以亞納米級的精準,、毫米級的視野和革命性的效率，成為您探索微觀世界的伙伴,。

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