Morphologi 4 精選 Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
參考價 | ¥ 25000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 山金工業(yè)(深圳)有限公司
- 品牌 MALHATY/丸八
- 型號 Morphologi 4 精選
- 產地 日本大阪
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/7/5 12:01:36
- 訪問次數 84
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應用領域 | 食品/農產品,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣,綜合 | 型號 | Epsilon |
---|---|---|---|
出力 | 10 W(最大50 kv. 1.0 mA) | 檢測器 | 高靈敏度硅漂移檢測器SDD10 |
范圍 | Na~Am | 過濾器 | 6種類 (Cu 300 um,Cu 500 um,Al 50 μm, Al 200 um, Ti 7 |
外部寸法(WXDxH),、重量 | 395x375x384毫米()。24公斤 | 液氮、真空系統 | 有 |
電源 | 100 V-240 V.250 VA. 50/60 Hz | 界面 | 局域網,、VGA,、USB、HDMI接口 |
Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
Aeris緊湊型X射線衍射儀
臺式X射線衍射儀(XRD)
我們的臺式 X 射線衍射 (XRD) 儀器 Aeris 可提供此前只有大型落地式儀器才具備的數據質量和速度,。
您面臨這些挑戰(zhàn)嗎,?
XRD設備價格昂貴,難以決定購買
設備較大,,沒有足夠的空間安裝,。
測量和操作復雜,沒有專業(yè)知識很難使用
測量和分析需要時間,,導致業(yè)務運營延遲
依賴外包分析和等待結果的時間
對小型設備的準確性和可靠性的擔憂
Aeris 內置觸摸屏和直觀的軟件,,方便任何人使用。數據輸出可以使用與落地式 XRD 儀器相同的 High Score 分析軟件進行詳細分析,,用于化合物識別,、定量分析、結晶度分析,、晶粒尺寸分析,、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶體結構分析。Aeris
是 Malvern Panalytical 的 XRD 儀器,,為工業(yè)臺式應用提供優(yōu)良的數據采集和全自動化功能,。Aeris 是一款經濟實惠的 XRD 儀器,提供四個版本(水泥版,、礦物版,、金屬版和研究版),以滿足您特定的應用需求,。
OmniTrust兼容:適用于制藥監(jiān)管環(huán)境的解決方案
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版本
特征
配件
支持
客戶評價
相關資源
版本
Aeris 研究版
我們提供準確的通用材料分析解決方案,滿足您的所有需求,。
Aeris 研究版
Aeris水泥版
直接研究水泥和中間體的礦物組成,。
Aeris水泥版
Aeris 礦物版
多功能礦石分析儀,可供采礦業(yè)的任何人使用,。
Aeris 礦物版
Aeris Metals 版
可靠,、快速地分析燒結體、還原鐵和殘余奧氏體,。
Aeris Metals 版
Aeris 制藥應用
藥物開發(fā)和制造的固體形態(tài)分析
Aeris 制藥應用
特征
繼承 型號光學系統的臺式型號
通常,,臺式X射線衍射儀使用的測角儀體積小巧輕便。Aeris配備了與高精度落地式X射線衍射儀(XRD)類似的測角儀,以及X射線管和高速探測器,。
高靈敏度,,可檢測出 1% 或更少的晶相和多態(tài)性
符合 21 CFR 第 11 部分的數據完整性軟件
水平采樣系統消除了粉末樣品掉落的風險
無需冷卻水設備,大大減少安裝和維護成本
相關博客文章:XRD 在實現綠色水泥中的重要作用
檢測靈敏度和分辨率
與傳統的臺式粉末X射線衍射(XRD)相比,,低角度下的背景有所降低,,因此更容易檢測到微小的峰值。
此外,,即使是臺式X射線衍射(XRD),,它也實現了小于0.04°半寬的輪廓分辨率。 它可有效進行精確的Rietveld分析,。
精度和再現性
通過安裝與 X射線衍射儀器(XRD)相當的高精度測角儀,,可以獲得角度線性在±0.02°以內的高可靠性數據,實現良好的測量重復性和再現性,。
安全性
X射線照射單元,、測量單元和檢測系統都是密封的,確保安全性,。 測量時,,將樣品放置在儀器外部的樣品臺上,并自動傳送到測量單元并開始測量操作,。
提供豐富晶體信息的日語XRD研究軟件高分
靈活分析
利用 算法的搜索匹配功能實現高精度識別
無需改變原始格式即可分析數據
內部開發(fā)的 Rietveld 細化算法經過數十年的改進
可靈活應用高階函數和多種模型,,實現高精度擬合。
聚類分析功能自動對測量數據進行分類
PLS(偏線性回歸)分析可以對天然產品樣本等復雜數據進行統計分析
實用功能
X 射線衍射所需的高級衍射功能 集成到一個軟件中
一款軟件,,涵蓋從研究人員的高級衍射到 QA/QC 應用的所有內容
保存的分析條件可自動處理多個數據,,并可一次導出任何參數。
復制/粘貼和撤消/重做功能允許您調整配件
位圖掃描轉換器可以將紙質圖表轉換為數字數據,,讓您可以讀取舊數據或其他公司的數據進行比較分析,。
無需特殊操作環(huán)境
綜合的
從數據分析到輸出和用戶數據庫創(chuàng)建
與其他 Malvern Panalytical X 射線衍射 (XRD) 產品(Empyrean、X'Pert 系列)相同
High Score主要用于身份識別,,可擴展為High Score Plus(Rietveld分析功能)
對于那些剛接觸 X 射線分析的人來說
如何用XRD識別化合物并分析樣品中的晶體:首先,,將單色(單波長)X射線以不同角度照射到粉末上。如果樣品含有晶體,,當角度滿足“布拉格條件”時,,會出現由晶面間距引起的峰。該峰出現的“角度位置”表示該晶體 的“面間距”,。換句話說,,可以通過峰的位置和強度來估計所含晶體的種類和數量,從而進行定性(鑒定)甚至定量分析,。此外
,,還可以分析晶粒尺寸,、晶體畸變和晶格常數等參數。
如果樣品不含晶體成分,,即非晶態(tài),,則不會出
我司代理及優(yōu)勢品牌一覽明細:
代理品牌:CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎,、REVOX萊寶克斯,、SERIC索萊克
SONIC索尼克、SANKO三高,、NEWKON新光,、HAYASHI 林時計、NPM日脈
NS日本科學,、DRY-CABI東利繁,、TOKISANGYO東機
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山,、Kakuhunt寫真化學,、NIPPON GEAR日本齒輪
NIDEC尼得科、MIYACHI天田,、TORAY 東麗
優(yōu)勢品牌:USHIO牛尾,、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克,、FUNATECH船越龍,、ORC歐阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰,、TORAY東麗,、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色,、KKIMAC
S-VANS斯萬斯,、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐,、HIKARIYA光屋,、YAMADA山田光學
AND艾安得、T&D天特,、JIKCO吉高,、DKK-TOA東亞電波,、OKANO岡野,、ANRITSU安立計器
IMV艾目微、MITUTOYO三豐,、KYOWA共和,、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學KURABO倉紡,、SHOWA昭和,、THINKY新基、AIKOH愛光,、SEM坂本電機
SURUGA駿河,、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商,、ITOH伊藤,、NAGARISHI成茂、
RKC理化,、MACOME碼控美,、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯,、YODOGAWA淀川等
優(yōu)勢產品:日本紫外線照度計,、紫外線裝置燈管、LED視覺光源,、表面檢查燈,、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀,、鹵素光源裝置,、氧氣濃度計、焊接機,、應力表面檢查儀,、LED光源機、電子天平,、粘度計,、膜厚計、恒流泵,、采樣泵,、PH計、水分計,、地震測試儀,、脫泡攪拌機、壓力傳感器,、氣體檢測儀,、接近開關、拉拔機,、異音檢測儀,、應變測試儀,、拉針儀、水平測試儀等
氣動元件:SMC FESTO CKD,MAC,,安沃馳AVENTICS,,雄克SCHUNK,小金井KOGANEI,,諾冠NORGREN,,寶德BURKERT,力士樂REXROTH,,濱霸BIMBA,,康茂勝CAMOZZI,PIAB
傳感開關:邦納BANNER,,巴魯夫BALLUFF,,皮爾茲PILZ,易福門IFM,西克SICK,圖爾克TURCK,良信,,安士能EUCHNER,,倍加福P+F,穆爾MURR,,倍福BECKHOFF,,德森克DI-SORIC,施邁賽SCHMERSAL,,基恩士KEYENCE,,歐姆龍OMRON,
電氣控制:西門子SIEMENS,,施耐德 SCHNEIDER,,伊頓-穆勒EATON,羅克韋爾A-B,,ABB,,三菱MITSUBISHI,丹佛斯DANFOSS,,倫茨LEUZE,,SEW
端子連接器:菲尼克斯PHOENIX,魏德米勒WEIDMULLER,,浩亭HARTING,,高松電子