Malvern馬爾文 Revontium 緊湊X射線衍射儀

Malvern馬爾文 Revontium 緊湊X射線衍射儀

Aeris緊湊型X射線衍射儀

臺式X射線衍射儀（XRD）

我們的臺式 X 射線衍射 (XRD) 儀器 Aeris 可提供此前只有大型落地式儀器才具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和速度,。

您面臨這些挑戰(zhàn)嗎,？

XRD設備價格昂貴，難以決定購買

設備較大,，沒有足夠的空間安裝,。

測量和操作復雜，沒有專業(yè)知識很難使用

測量和分析需要時間,，導致業(yè)務運營延遲

依賴外包分析和等待結(jié)果的時間

對小型設備的準確性和可靠性的擔憂

Aeris 內(nèi)置觸摸屏和直觀的軟件,，方便任何人使用。數(shù)據(jù)輸出可以使用與落地式 XRD 儀器相同的 High Score 分析軟件進行詳細分析,，用于化合物識別,、定量分析、結(jié)晶度分析,、晶粒尺寸分析,、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶體結(jié)構(gòu)分析。Aeris 

是 Malvern Panalytical 的 XRD 儀器,，為工業(yè)臺式應用提供優(yōu)良的數(shù)據(jù)采集和全自動化功能,。Aeris 是一款經(jīng)濟實惠的 XRD 儀器，提供四個版本（水泥版,、礦物版,、金屬版和研究版），以滿足您特定的應用需求,。 

OmniTrust兼容：適用于制藥監(jiān)管環(huán)境的解決方案

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版本

特征

配件

支持

客戶評價

相關資源

版本

Aeris 研究版

我們提供準確的通用材料分析解決方案,，滿足您的所有需求。

Aeris 研究版

Aeris水泥版

直接研究水泥和中間體的礦物組成,。

Aeris水泥版

Aeris 礦物版

多功能礦石分析儀,，可供采礦業(yè)的任何人使用。

Aeris 礦物版

Aeris Metals 版

可靠、快速地分析燒結(jié)體,、還原鐵和殘余奧氏體,。

Aeris Metals 版

Aeris 制藥應用

藥物開發(fā)和制造的固體形態(tài)分析

Aeris 制藥應用

特征

繼承 型號光學系統(tǒng)的臺式型號

通常，臺式X射線衍射儀使用的測角儀體積小巧輕便,。Aeris配備了與高精度落地式X射線衍射儀（XRD）類似的測角儀,，以及X射線管和高速探測器。 

高靈敏度,，可檢測出 1% 或更少的晶相和多態(tài)性

符合 21 CFR 第 11 部分的數(shù)據(jù)完整性軟件

水平采樣系統(tǒng)消除了粉末樣品掉落的風險

無需冷卻水設備,，大大減少安裝和維護成本

相關博客文章：XRD 在實現(xiàn)綠色水泥中的重要作用

檢測靈敏度和分辨率

與傳統(tǒng)的臺式粉末X射線衍射（XRD）相比，低角度下的背景有所降低,，因此更容易檢測到微小的峰值,。 

此外，即使是臺式X射線衍射（XRD）,，它也實現(xiàn)了小于0.04°半寬的輪廓分辨率。 它可有效進行精確的Rietveld分析,。 

精度和再現(xiàn)性

通過安裝與 X射線衍射儀器（XRD）相當?shù)母呔葴y角儀,，可以獲得角度線性在±0.02°以內(nèi)的高可靠性數(shù)據(jù)，實現(xiàn)良好的測量重復性和再現(xiàn)性,。 

安全性

X射線照射單元,、測量單元和檢測系統(tǒng)都是密封的，確保安全性,。 測量時,，將樣品放置在儀器外部的樣品臺上，并自動傳送到測量單元并開始測量操作,。  

提供豐富晶體信息的日語XRD研究軟件高分

靈活分析

利用 算法的搜索匹配功能實現(xiàn)高精度識別

無需改變原始格式即可分析數(shù)據(jù)

內(nèi)部開發(fā)的 Rietveld 細化算法經(jīng)過數(shù)十年的改進

可靈活應用高階函數(shù)和多種模型,，實現(xiàn)高精度擬合。

聚類分析功能自動對測量數(shù)據(jù)進行分類

PLS（偏線性回歸）分析可以對天然產(chǎn)品樣本等復雜數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析

實用功能

X 射線衍射所需的高級衍射功能 集成到一個軟件中

一款軟件,，涵蓋從研究人員的高級衍射到 QA/QC 應用的所有內(nèi)容

保存的分析條件可自動處理多個數(shù)據(jù),，并可一次導出任何參數(shù)。

復制/粘貼和撤消/重做功能允許您調(diào)整配件

位圖掃描轉(zhuǎn)換器可以將紙質(zhì)圖表轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)據(jù),，讓您可以讀取舊數(shù)據(jù)或其他公司的數(shù)據(jù)進行比較分析,。

無需特殊操作環(huán)境

綜合的

從數(shù)據(jù)分析到輸出和用戶數(shù)據(jù)庫創(chuàng)建

與其他 Malvern Panalytical X 射線衍射 (XRD) 產(chǎn)品（Empyrean、X'Pert 系列）相同

High Score主要用于身份識別,，可擴展為High Score Plus（Rietveld分析功能）                                                                         

對于那些剛接觸 X 射線分析的人來說

如何用XRD識別化合物并分析樣品中的晶體：首先,，將單色（單波長）X射線以不同角度照射到粉末上。如果樣品含有晶體,，當角度滿足“布拉格條件”時,，會出現(xiàn)由晶面間距引起的峰。該峰出現(xiàn)的“角度位置”表示該晶體 的“面間距”。換句話說,，可以通過峰的位置和強度來估計所含晶體的種類和數(shù)量,，從而進行定性（鑒定）甚至定量分析。此外 

,，還可以分析晶粒尺寸,、晶體畸變和晶格常數(shù)等參數(shù)。 

如果樣品不含晶體成分,，即非晶態(tài),，則不會出

我司代理及優(yōu)勢品牌一覽明細：

代理品牌：CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎,、REVOX萊寶克斯,、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高,、NEWKON新光,、HAYASHI 林時計、NPM日脈

NS日本科學,、DRY-CABI東利繁,、TOKISANGYO東機

SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山,、Kakuhunt寫真化學,、NIPPON GEAR日本齒輪

NIDEC尼得科、MIYACHI天田,、TORAY 東麗

優(yōu)勢品牌：USHIO牛尾,、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克,、FUNATECH船越龍,、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰,、TORAY東麗,、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色,、KKIMAC

S-VANS斯萬斯,、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐,、HIKARIYA光屋,、YAMADA山田光學

AND艾安得、T&D天特,、JIKCO吉高,、DKK-TOA東亞電波,、OKANO岡野、ANRITSU安立計器

IMV艾目微,、MITUTOYO三豐,、KYOWA共和、ONOSOKKI小野,、SANEI三榮,、HEIDON新東科學KURABO倉紡、SHOWA昭和,、THINKY新基,、AIKOH愛光、SEM坂本電機

SURUGA駿河,、ACCRETECH東京精密,、SANSYO三商、ITOH伊藤,、NAGARISHI成茂,、

RKC理化、MACOME碼控美,、EIWA榮和,、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等

優(yōu)勢產(chǎn)品：日本紫外線照度計,、紫外線裝置燈管、LED視覺光源,、表面檢查燈,、手持檢測燈

變色燈箱、色差儀,、鹵素光源裝置,、氧氣濃度計、焊接機,、應力表面檢查儀,、LED光源機、電子天平,、粘度計,、膜厚計、恒流泵,、采樣泵,、PH計、水分計,、地震測試儀,、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀,、接近開關,、拉拔機、異音檢測儀,、應變測試儀,、拉針儀、水平測試儀等

氣動元件：SMC FESTO CKD,MAC,，安沃馳AVENTICS,，雄克SCHUNK，小金井KOGANEI,，諾冠NORGREN,，寶德BURKERT，力士樂REXROTH,，濱霸BIMBA,，康茂勝CAMOZZI，PIAB

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端子連接器：菲尼克斯PHOENIX，魏德米勒WEIDMULLER,，浩亭HARTING,，高松電子