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透射電鏡（TEM）用氮化硅薄膜窗口
產(chǎn)品概述：
與X射線用氮化硅窗口類似,，透射電鏡（TEM）用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底,。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求,。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格,。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。

現(xiàn)在SHNTI可以提供透射電鏡（TEM）用氮化硅薄膜窗系列產(chǎn)品，規(guī)格如下：
外框尺寸:

• 3 mm x 3 mm （窗口尺寸：0.5 mm,，薄膜厚度：50 nm）
• 3 mm x 3 mm （窗口尺寸：1.0 mm,，薄膜厚度：50 nm）
• 3 mm x 3 mm （窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：100 nm）
• 窗口類別：雙縫,、九窗格（3×3陣列）

邊框厚度： 200μm,、381μm。 
Si3N4薄膜厚度： 50nm,、100nm
SHNTI也可以為用戶定制產(chǎn)品（30-200nm）,，但要100片起訂。
本產(chǎn)品為一次性產(chǎn)品,，SHNTI不建議用戶重復(fù)使用,，本產(chǎn)品不能進(jìn)行超聲清洗，適合化學(xué)清洗,、輝光放電和等離子體清洗,。

技術(shù)指標(biāo)：
表面平整度：
我們認(rèn)為薄膜與其下的硅片同樣平整， TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度為：0.6-2nm,。*適用于TEM表征,。

親水性
該窗格呈疏水性，如果樣品取自水懸浮液,，懸浮微粒則不能均勻地分布在薄膜上,。用等離子蝕刻機(jī)對(duì)薄膜進(jìn)行親水處理，可暫時(shí)獲得親水效果,。雖然沒有對(duì)其使用壽命進(jìn)行過(guò)測(cè)試,，但預(yù)期可以獲得與同樣處理的鍍碳TEM網(wǎng)格相當(dāng)?shù)膲勖Ｎ覀兛梢陨a(chǎn)此種蝕刻窗格,，但無(wú)法保證其使用壽命,。如果實(shí)驗(yàn)室有蝕刻工具也可對(duì)其進(jìn)行相應(yīng)的處理提高其親水性能。



溫度特性：
氮化硅薄膜窗口產(chǎn)品是耐高溫產(chǎn)品,，能夠承受1000度高溫,，非常適合在其表面利用CVD方法生長(zhǎng)各種納米材料。

化學(xué)特性：
氮化硅薄膜窗口是惰性襯底,。

應(yīng)用簡(jiǎn)介和優(yōu)點(diǎn)：
1,、 適合TEM、SEM,、AFM,、XPS、EDX等的對(duì)同一區(qū)域的交叉配對(duì)表征,。
2,、 大窗口尺寸,，適合TEM大角度轉(zhuǎn)動(dòng)觀察。
3,、 無(wú)碳,、無(wú)雜質(zhì)的清潔TEM觀測(cè)平臺(tái)。
4,、 背景氮化硅無(wú)定形,、無(wú)特征。
5,、 耐高溫,、惰性襯底，適應(yīng)各種聚合物,、納米材料,、半導(dǎo)體材料、光學(xué)晶體材料和功能薄膜材料的制備環(huán)境,，（薄膜直接沉積在窗口上）,。
6、 生物和濕細(xì)胞樣本的理想承載體,。特別是在等離子體處理后,，窗口具有很好的親水性,。,。
7、 耐高溫,、惰性襯底,，也可以用于化學(xué)反應(yīng)和退火效應(yīng)的原位表征。
8,、 適合做為膠體,、氣凝膠、有機(jī)材料和納米顆粒等的表征實(shí)驗(yàn)承載體,。

氮化硅薄膜應(yīng)用范圍非常廣,，甚至有時(shí)使不可能變?yōu)榭赡埽袘?yīng)用都有無(wú)氮要求（因樣本中有氮存在）：
惰性基片可用于高溫環(huán)境下,，通過(guò)TEM,、SEM或AFM（某些情況下）對(duì)反應(yīng)進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察。
作為耐用基片,，首先在TEM下,，然后在SEM下對(duì)同一區(qū)域進(jìn)行“匹配”。
作為耐用匹配基片,，對(duì)AFM和TEM圖像進(jìn)行比較,。
聚焦離子束（FIB）樣本的裝載,，我們*使用多孔薄膜，而非不間斷薄膜,。


許多研究納米微粒,，特別是含氮納米微粒的人員發(fā)現(xiàn)此種薄膜窗格在他們實(shí)驗(yàn)中*。氣凝膠和干凝膠的基本組成微粒尺寸極小,，此項(xiàng)研究人員也同樣會(huì)發(fā)現(xiàn)氧化硅薄膜窗格的價(jià)值,。
優(yōu)點(diǎn)：
• SEM應(yīng)用中，薄膜背景不呈現(xiàn)任何結(jié)構(gòu)和特點(diǎn),。
• x-射線顯微鏡中,，裝載多個(gè)分析樣的*方法。
• 無(wú)氮
高溫應(yīng)用,，氮化硅薄膜在1000°C高溫下仍能保持穩(wěn)定的性能,。

使用前清潔：
氮化硅薄膜窗格在使用前不需進(jìn)行額外清潔。有時(shí)薄膜表面邊角處會(huì)散落個(gè)別氧化物或氮化物碎片,。由于單片網(wǎng)格需要從整個(gè)硅片中分離,，并對(duì)外框進(jìn)行打磨，因此這些微小碎片不可避免,。盡管如此,，我們相信這些碎片微粒不會(huì)對(duì)您的實(shí)驗(yàn)產(chǎn)生任何影響。

如果用戶確實(shí)需要對(duì)這些碎片進(jìn)行清理,，我們建議用H2SO4 : H2O2 （1:1）溶液清潔有機(jī)物,，用H2O:HCl: H2O2 （5:3:3）溶液清潔金屬。

通常不能用超聲波清洗器清潔薄膜,，因超聲波可能使其粉碎性破裂,。

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