HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力溫度,、濕度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的負(fù)荷等),在非飽和濕度(65%.RH~100%.RH)溫度,、壓力的條件下，檢測(cè)產(chǎn)品或材料在耐高溫高濕能力可靠性的設(shè)備,。從而有效縮短試驗(yàn)驗(yàn)證時(shí)間,，提高驗(yàn)證效率，降低驗(yàn)證成本,，為研究提高產(chǎn)品的可靠性提供充分的依據(jù),。本設(shè)備廣泛應(yīng)用于IC半導(dǎo)體連接器、線路板,、磁性材料,、高分子材料、EVA,、光伏組件等行業(yè)之相關(guān)產(chǎn)品加速老化壽命試驗(yàn),，相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕試驗(yàn)設(shè)備要高效10倍有余。

HAST  (非飽和)高壓加速老化試驗(yàn)箱執(zhí)行及滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A102E-2015加速水汽抵抗性--無(wú)偏置高壓蒸煮(PCT)

JESD22-A110E.01-2021高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)(有偏置電壓未飽和高壓蒸汽)

JESD22-A118B.01-2021加速水汽抵抗性--無(wú)偏壓HAST(無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽)

IEC60068-2-66:1994(GB/T2423.40-2013)環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

IEC60749-4:2017(GB/T 4937.4-2012)半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第4部分：強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)

HAST  (非飽和)高壓加速老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)

A.高精度測(cè)試系統(tǒng)

可靠溫度測(cè)試模塊+三菱PLC組成,，高精度的整體控制系統(tǒng),；

B.本產(chǎn)品采用雙箱體測(cè)試結(jié)構(gòu)，測(cè)試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作,，獨(dú)立動(dòng)作,。與單箱體系統(tǒng)蒸汽在測(cè)試箱體內(nèi)生成不同，測(cè)試箱體(干)與蒸汽發(fā)生器(濕間的相互干擾降低,。此外,，設(shè)置在測(cè)試箱體內(nèi)溫度控制，則由內(nèi)部加熱系統(tǒng)很好地保證,，因此雙箱體可與單箱體系統(tǒng)媲美的大跨度的濕度調(diào)節(jié)范圍,，能為測(cè)試提供一個(gè)適當(dāng)和穩(wěn)定的環(huán)境，而且偏壓測(cè)試可精確實(shí)施,。高效可靠的測(cè)試非常重要,，因?yàn)樗鼙ＷC和傳統(tǒng)THB測(cè)試的緊密聯(lián)系和互動(dòng)；

C.一鍵式電子門(mén)鎖(按鈕)和滑動(dòng)托盤(pán)

使用電子門(mén)鎖只需按動(dòng)按鈕,，門(mén)就可以實(shí)現(xiàn)打開(kāi)或者關(guān)閉,；滑動(dòng)托盤(pán)可讓托盤(pán)與門(mén)同時(shí)打開(kāi)。這樣，使用者就無(wú)須在測(cè)試剛結(jié)束溫度高的時(shí)候就將手伸入測(cè)試箱體取放測(cè)試樣品,；

D.偏壓測(cè)試接頭

偏壓測(cè)試接線柱位于門(mén)上,，方便接線；端子數(shù)量/電流可定制,；

E.降壓方式

根據(jù)測(cè)試的目的不同,，可選不同的降壓方式(三種模式可選)；

F.多種測(cè)試方法

HAST非飽和蒸汽測(cè)試方法,、PCT飽和蒸汽測(cè)試方法同時(shí)滿(mǎn)足,；

G.安全排水

測(cè)試完成的水，經(jīng)冷卻之后再排出,。

技術(shù)參數(shù)