Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡
參考價 | ¥30000000-¥-1 |
- 公司名稱 賽默飛世爾科技(中國)有限公司
- 品牌FEI/賽默飛
- 型號
- 所在地上海市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時間2025/1/20 15:54:37
- 訪問次數(shù) 134
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價格區(qū)間 | 3000萬-4000萬 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
生產(chǎn)合適的材料并做出正確的設(shè)計選擇對于解決諸如開發(fā)更安全和更持久的電池,,創(chuàng)建更輕的材料以提高能效以及構(gòu)建更快,更高容量的計算機(jī)處理器或存儲設(shè)備等挑戰(zhàn)至關(guān)重要。Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡非常適合需要在原子水平上表征各種材料的學(xué)術(shù)或工業(yè)實驗室的研究人員,。它允許他們制造輕質(zhì)材料,,如先進(jìn)鋼,鋁合金或塑料,,用于開發(fā)更安全或更省油的運(yùn)輸,。Spectra還支持新半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和材料的研究,,為未來的高性能電子器件提供必要的構(gòu)建模塊,。
Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡新的檢測功能,使科學(xué)家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數(shù)據(jù),,以滿足更廣泛的應(yīng)用需求,。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的詳細(xì)圖像,包括金屬有機(jī)框架,,沸石和聚合物,,如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX(能量分散X射線)或EELS(電子能量損失光譜)等多種方式對大量原子級化學(xué)分析的不斷增長的需求,。
該平臺包括幾項新功能,,使S/TEM顯微鏡更上一層樓,包括:
更高亮度的電子源:特別明亮的冷場發(fā)射槍(X-CFEG)是一種提供更高對比度成像的新技術(shù),。對于化學(xué)分析和X射線分析,,它提供的信號是當(dāng)前一代TEM中傳統(tǒng)CFEG源的兩倍以上,空間分辨率高出10%以上,。結(jié)果是更高質(zhì)量的成像和分析以更高的分辨率,,允許用戶檢查更廣泛的材料。
更簡單的電氣特性分析:新的X-FEG/Ultimono光源允許研究人員和工程師并行生成復(fù)雜的高能量分辨率數(shù)據(jù),,而不是為此單一目的專用單獨(dú)的工具,。這有助于加速新材料的開發(fā),因為研究人員將更好地了解與其他關(guān)鍵屬性平行的電學(xué)行為,。
高動態(tài)范圍映射:電子顯微鏡像素陣列檢測器(EMPAD)是一種高速像素化STEM檢測器,,允許研究人員執(zhí)行大量高級應(yīng)用,如Ptychography,,用于超高分辨率和信號的用戶分段,。這有助于揭示對于新材料和工藝的開發(fā)至關(guān)重要的更多屬性。
Spectra 300包括三種光源選項:XFEG Mono,,X-FEG UltiMono和X-CFEG,,專為廣泛的樣品進(jìn)行原子級成像和分析而設(shè)計。Spectra 200提供200 kV X-CFEG,,是高對比度成像和化學(xué)分析的理想選擇,。