TESCAN 高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（SEM）

SEM

掃描電子顯微鏡是一種無損分析技術,，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級,。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像,，廣泛應用于各個科學和工業(yè)領域。

TESCAN 提供場發(fā)射掃描電子顯微鏡 ( FE-SEM ) ,，配備高亮度肖特基場發(fā)射燈絲,，可以獲得高分辨率和低噪聲成像效果。其中,，TESCAN MIRA 系列是高分辨率的場發(fā)射掃描電鏡,。此外，TESCAN 新推出了 TESCAN CLARA 和 TESCAN MAGNA 系列產(chǎn)品,。TESCAN CLARA 采用新型BrightBeam 電子鏡筒技術,，實現(xiàn)了無磁場超高分辨成像，可以實現(xiàn)各種分析,，包括磁性樣品的分析,。TESCAN MAGNA 配置Triglav 型超高分辨率電子鏡筒，同時使用了全新的電子光學系統(tǒng)和探測器系統(tǒng),，能夠提供良好的表面靈敏度和襯度圖像,，實現(xiàn)對電子束高敏材料或不導電材料納米特征的觀察。

產(chǎn)品型號介紹：

TESCAN MIRA

TESCAN CLARA

TESCAN MAGNA

適用領域

半導體和微電子：球柵陣列,、硅通孔,、引線焊接、微機電系統(tǒng)

材料科學：鋼鐵及合金、陶瓷及硬質(zhì)涂層,、玻璃,、聚合物及復合材料、土木工程和建筑材料,、木材,，紡織品及紙張

生命科學：生物醫(yī)學工程、細胞&組織形態(tài)學,、微生物學,、制藥技術、植物和動物科學,、亞細胞分析,、環(huán)境和食品科學

地球科學：巖石學 & 礦物學、古生物學,、礦物加工,、廢物回收