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APD-QE 先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 APD-QE
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/3/14 11:40:36
  • 訪問次數(shù) 3200

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聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創(chuàng)建于2009年,,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,從事科學(xué)儀器的研發(fā),、客制化生產(chǎn)并提供客戶一站式解決方案及服務(wù),。

 

  • R&D 創(chuàng)新研發(fā)、技術(shù)整合,、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導(dǎo)體/材料科學(xué)/化學(xué)領(lǐng)域中,,為客戶預(yù)先提供“下一步”解決方案,幫助客戶實(shí)現(xiàn)在科學(xué)研究,、技術(shù)和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的專業(yè)和創(chuàng)新突破,。我們擁有光學(xué)技術(shù)、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì),、電子與電控技術(shù)整合,、軟體與資料庫設(shè)計(jì)開發(fā),根據(jù)產(chǎn)業(yè)動態(tài),、豐富業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn),,為客戶提供產(chǎn)品與專案企劃、咨詢需求到系統(tǒng)運(yùn)營的整合性服務(wù),。成功協(xié)助客戶在半導(dǎo)體材料,、太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell),、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor),、相機(jī)(含手機(jī)相機(jī)、工業(yè)相機(jī)及科學(xué)及相機(jī))等領(lǐng)域的研發(fā)上取得許多重大突破并獲得*成果,。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應(yīng)用服務(wù)

 

擴(kuò)展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應(yīng)用領(lǐng)域,、提高轉(zhuǎn)換效率,是近年前沿研究的主要課題,。近十年,,鈣鈦礦太陽能電池光電轉(zhuǎn)換效率的成長紀(jì)錄不斷刷新世界紀(jì)錄,目前已達(dá)到23.3%,,成為太陽能電池領(lǐng)域的新秀,!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩(wěn)定性,、衰減速率快等特性,成為研究人員面臨的挑戰(zhàn),。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,,提供涵蓋設(shè)計(jì)、研發(fā),、軟體,、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,,讓客戶能有效,、準(zhǔn)確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率,為客戶研究創(chuàng)新帶來優(yōu)勢,。

 

  • 多元產(chǎn)業(yè)應(yīng)用服務(wù)

 

光焱科技將光電檢測技術(shù),,延伸至半導(dǎo)體、材料科學(xué),、LED發(fā)光材料,、航太應(yīng)用及生醫(yī)領(lǐng)域,提供專案研發(fā)和實(shí)驗(yàn)室儀器配套應(yīng)用的制造,、整合,、測試和維護(hù)管理供應(yīng)鏈服務(wù)。服務(wù)亦涵蓋標(biāo)定校正設(shè)備的客制研發(fā),,為科學(xué)研究,、檢測認(rèn)證、新產(chǎn)品開發(fā),、制造生產(chǎn)提供完整可靠的一站式解決方案,。

技術(shù)與維護(hù)服務(wù)

 

光焱科技自2012年起陸續(xù)在大陸、日本,、美國,、中東及印度建立銷售通路及售后服務(wù)據(jù)點(diǎn),我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,,即時(shí)提供合適的解決方案,,協(xié)力科學(xué)研究、助力產(chǎn)業(yè)升級創(chuàng)新,。我們的標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品及專案能依據(jù)客戶需求進(jìn)行調(diào)整和擴(kuò)展,,服務(wù)分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據(jù)客戶需求進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)/產(chǎn)品升級/系統(tǒng)整合等服務(wù)。

 

*One-stop-shop 一站式統(tǒng)合服務(wù):涵蓋多元的廠牌合作服務(wù),。

 

*維護(hù)管理服務(wù):提供維修及產(chǎn)品健檢管理服務(wù),。

 

*快速支援服務(wù):涵蓋售前售后客服支援、技術(shù)支援,、科研支援服務(wù),。

 

QE量子效率測試儀,,3A

測量模式 交流 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源

產(chǎn)品介紹


  隨著 5G 與移動設(shè)備的興起與普及,越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中,。 為了能更好的應(yīng)用在移動設(shè)備上,,這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對先進(jìn)光傳感器的光感測性能要求卻越來越高,。 在感光面積微縮的過程中,也帶來量子效率精準(zhǔn)檢查的挑戰(zhàn),。 例如,,傳統(tǒng)聚光型小光斑在不同波長下,色散差造成焦點(diǎn)位移可到 mm 等級,。 難以將所有的光子都聚焦到微米等級的感光面積中,。 因此,難以準(zhǔn)確測得全光譜量子效率曲線,。

  APD-QE采用專門的光束空間均勻化技術(shù),,利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的Irradiance Mode測試方式,與各種先進(jìn)探針臺形成完整的微米級光感測器全光譜量子效率測試解決方案,。 APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光傳感器的測試中,,例如在 iPhone 激光雷達(dá)與其多種光傳感器、Apple Watch 血氧光傳感器,、TFT 影像感測器,、有源主動像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉(zhuǎn)換 X 射線傳感器等,。

  PEM™ (Photon-Energy Modulator) 簡介,,這是一款革命性的解決方案,旨在將您的量子效率測試和光譜分析提升到新的高度,。 這種創(chuàng)新工具可精確控制光子通量和能量,,確保在各種波長下獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


傳統(tǒng)QE系統(tǒng)在新型光電傳感器測試的挑戰(zhàn):

  1.市面上的量子效率系統(tǒng)多為「功率模式」,。

  2.隨移動設(shè)備的大量普及,,先進(jìn)光電傳感器如APD、SPAD,、ToF等,,組件收光面積均微型化,有效收光面積由數(shù)十微米到數(shù)百微米(10um ~ 200um),。

  3.光束聚焦的「功率模式」 ,,用來檢查小面積的先進(jìn)光電偵測器的問題:

    1. 難以將所有光子,全部打進(jìn)微米等級的有效收光面積(無法達(dá)到功率模式的要求)=> 絕對 EQE 值難以取得,。

    2. 在聚光模式下,,難以克服光學(xué)色散差,、球面像差等帶來的檢查誤差。 => EQE 光譜曲線不正確,。

    3. 難以整合探針臺

特點(diǎn)


  • 使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021

  • 取代傳統(tǒng)聚焦小光源,,可以測試等級光電子檢測器。

  • 均勢光斑可以克服色散差與像差的問題,,可準(zhǔn)確測量得EQE曲線

  • 可搭配多種探針系統(tǒng),,實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測試。

  • 整合光學(xué)與測試系統(tǒng),,提高系統(tǒng)搭建效率,。

  • 一體式自動化測試軟件,自動光譜保存與檢測,,工作效率高,。

  • 測試特性:

     – 環(huán)境效率 EQE

     – 光譜回應(yīng) SR

     – IV 曲線檢測

     – NEP 光譜檢測

     – D* 光譜檢測

     – 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)

     – Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析


  光焱科技Enlitech 的專家團(tuán)隊(duì)擁有豐富的實(shí)驗(yàn)室經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)知識,能夠在線上或現(xiàn)場指導(dǎo)客戶進(jìn)行精密測試,。 例如,,通過對噪聲電流頻率圖的詳細(xì)分析,Enlitech 幫助客戶識別潛在的測試誤差,,優(yōu)化測試參數(shù),,從而提升測試的精確度與再現(xiàn)性。

  Enlitech 深知,,在光電領(lǐng)域中,,精確測試對產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制至關(guān)重要。 客戶在面對如噪聲電流頻率,、量子效率(EQE),、探測度(D*)及噪聲等效功率(NEP)等測試時(shí),常常因儀器調(diào)校復(fù)雜,、數(shù)據(jù)不穩(wěn)定而感到困惑,。 針對這些痛點(diǎn),Enlitech提供了全面的解決方案,。

  EQE 和 D* 等指標(biāo)直接影響光電探測器的靈敏度和性能,,這在半導(dǎo)體、通訊及航空航天等高科技領(lǐng)域尤為重要,。 準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)不僅能夠幫助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量,,還能降低產(chǎn)品開發(fā)周期,節(jié)省成本,。


專業(yè)技術(shù)



先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定制化光斑尺寸與光強(qiáng)度

  光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸,、工作距200mm條件下檢查,可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下,。在波長530nm時(shí),,光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 ),。


波長 (納米)半高寬(nm)光均U%=(Mm)/(M+m)
5毫米×5毫米3毫米×3毫米
47017.651.6%1.0%
53020.131.6%1.2%
63019.851.6%0.9%
100038.891.2%0.5%
140046.051.0%0.5%
160037.401.4%0.7%


在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下,,APD-QE探測器量子效率測試系統(tǒng)測量的光均強(qiáng)度,。

光焱科技具備自主光學(xué)設(shè)計(jì)能力。光斑與光強(qiáng)度在內(nèi)容中,,可以接受客製化,,如有需要與我們聯(lián)繫。



先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定量控制功能:


  APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)具有「定量」功能(選配),,用戶可以透過控制各個(gè)單色光子數(shù),,讓各波長光子數(shù)都一樣,并進(jìn)行測試,。這也是光感測科技 APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)的獨(dú)到技術(shù),其他廠商都做不到,。


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)使用定量子數(shù)控制模式(CP控制模式),,子數(shù)變化可以 < 1%


系統(tǒng)規(guī)格

 ◆均光系統(tǒng)與探針臺整合

可量測可客制化
1.最終光強(qiáng)校正.客化暗箱
2.光譜響應(yīng)測定.XYZ軸位移平臺
3.外部量子效率(EQE)

.定制探針臺整合服務(wù)

  4" 標(biāo)準(zhǔn)探針臺(MPS-4-5)

4.NEP 光譜
5.D*光譜
6.噪音-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 )
7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
8.IV 曲線測試
.不同光IV 曲線測試
.定電流/電壓,,電壓/電流間變化測試
.照光條件下

 ◆ 高均光斑:

  采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統(tǒng),,可將單色光強(qiáng)度空間分布均勢化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測光強(qiáng)度分,,不一致勢在 470nm,、530nm、630nm,、850nm 均可小於 1%,。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測光強(qiáng)度分,不一致勢可以小於 4%,。


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

 ◆ PDSW 軟體

  PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺,,可進(jìn)行多種自動化檢測,包含EQE,、SR,、IV、NEP,、D*,、速率雜訊電流圖(A/Hz1/2)、雜訊分析等,。

EQE 測試

 EQE測試功能,,可以進(jìn)行不同單色波長測試,并且可以自動測試全光譜EQE,。

▌IV檢查

  軟體可支持多種 SMU 控制,,自動進(jìn)行光照 IV 測試以及暗態(tài) IV 測試,,并支持多圖顯示。

 ▌D* 與 NEP

  相對于其它 QE 系統(tǒng),,APD-QE 可以直接檢測并得到 D* 與 NEP,。


  ▌速率-雜訊電流曲線


  ▌可升級軟件

  升級FETOS軟件操作界面(選配),可測試3端與4端的Photo-FET組件,。


內(nèi)部集成探針臺


  APD-QE 系統(tǒng)由其出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),,可以組成多種探針臺。全波長光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統(tǒng)中,。單色光學(xué)儀引到探針臺遮光罩盒,。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺組件,帶有 4 英寸真空吸入盤和 4 個(gè)帶有低噪音三軸電子的探針微定位器,。


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)



 先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


 



















  集成探針臺顯示微鏡,,手動滑動切換到被測試設(shè)備的位置。使用滑動條件后,,單色光源器被「固定」在設(shè)計(jì)位置,。顯示微圖像可以顯示于屏幕上,方便用戶進(jìn)行良好的連接,。


可客制化整合多種探針與遮光暗箱:


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


A. 定制化隔離遮光箱,。
B. 由于先進(jìn)的PD估算響應(yīng)速度,所以有效面積就要?。ń档腿萘啃剩?,因此,有很多需要整合探針臺的需求,。
C. 可整合不同的半導(dǎo)體分析儀器如4200或E1500,。

應(yīng)用


 ● LiDAR 中的光電探測器

 ● InGaAs 光電二維 / SPAD(單光子雪崩二極管)

 ● 蘋果手表光能傳感器

 ● 用于高增益感測和成像的光電二極管門控電晶體

 ● 高頻電感增益和填充系數(shù)光學(xué)靈敏度分析儀

 ● 高靈敏度X射線探測器表征

 ● 硅光學(xué)

 ● InGaAs APD(雪崩光電二極管)


應(yīng)用1: iPhone 12的LiDAR和其他傳感器中光電二極管的外部量子效率:


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


應(yīng)用 2:用于高增益?zhèn)鞲泻统上竦墓怆姸O管門控晶體管:

  在光學(xué)傳感和成像應(yīng)用中,為了提高靈敏度和 SNR,,APS (active pixel sensor) 包括一個(gè)光電探測器或一個(gè)光電二極管和幾個(gè)晶體管,,形成一個(gè)多組件電路。 其中一個(gè)重要的單元:像素內(nèi)放大器,,也稱為源追隨者是必須使用,。 APS 自誕生之日起,就從三管電路演變?yōu)槲骞茈娐?,以解決暈染,、復(fù)位噪聲等問題。 除了 APS,,雪崩光電二極管 ( APD )及其相關(guān)產(chǎn)品:硅光電倍增器(SiPM)也可以獲得高靈敏度,。 然而,由于必須采用高電場來啟動光電倍增和碰撞電離,因此在這些設(shè)備中高場引起的散粒噪聲很嚴(yán)重,。

最近,,提出了亞閾值操作光電二極管(PD)門控晶體管的器件概念。 它無需高場或多晶體管電路即可實(shí)現(xiàn)高增益,。 增益源自光誘導(dǎo)的柵極調(diào)制效應(yīng),,為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),必須進(jìn)行亞閾值操作,。 它還以緊湊的單晶體管( 1-T) APS 格式將 PD 與晶體管垂直集成,,從而實(shí)現(xiàn)高空間分辨率。 這種器件概念已在各種材料系統(tǒng)中實(shí)施,,使其成為高增益光學(xué)傳感器的可行替代技術(shù),。

APD-QE 系統(tǒng)致力于研究和分析光電二極管門控非晶硅薄膜晶體管:

  1. 不同光強(qiáng)下的光轉(zhuǎn)移曲線特性。

  2. 光強(qiáng)度函數(shù)的閾值電壓變化(ΔVth),。

  3. 有/無曝光的晶體管輸出特性,。

  4. 量子效率與光敏增益光譜。

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

(a) a-Si:H 光電二極管門控 LTPS TFT 結(jié)構(gòu)示意圖; (b) 等效電路圖,,顯示具有高 SNR 的 APS


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

(a) 像素的顯微照片; (b) 部分陣列的顯微照片; (c) 圖像傳感器芯片的照片










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